信息和通讯设备

在 PCI Express （PCIe） 系统的上电序列期间，参考时钟 （REFCLK） 和边带信号可能没有达到其所需的稳定性或作容差。

本试验利用高低温试验测试箱对 5G 通讯芯片进行性能测试。设置不同的温度（ - 40°C - 100°C）和驻留时间（1 - 8 小时）条件，对芯片样品进行高低温循环试验。