显影液是光刻过程中关键的化学材料,广泛应用于半导体制造和微电子器件。常见的显影液成分是四甲基氢氧化铵(TMAH)。本例通过电位滴定法测定一种显影液中四甲基氢氧化铵的浓度。
国内由于功率器件起步较晚,其测试设备的研制也相对晚于国外。为了确保碳化硅功率模块在应用中的可靠性,其静态特性的测试研究十分重要。静态参数测试是评估功率器件性能是否达标的基础流程。静态参数主要是指SiC
在半导体制造领域,刻蚀技术是实现微电子器件精细加工的关键步骤之一。本文主要介绍通过MT-V6自动电位滴定仪来测试硝酸/氢氟酸蚀刻液体系的含量。
氢氟酸是氟化氢气体的水溶液,具有极强的腐蚀性,常用来蚀刻玻璃,可以雕刻图案、标注刻度和文字;半导体行业用来除去硅表面的氧化物。本实验通过MT-V6颜色滴定测定氢氟酸的浓度。
IGBT产品,按照封装形式和集成程度的不同,可分为IGBT裸片、IGBT单管、IGBT模块以及IPM/PIM模块,IGBT产品技术参数较多,一般会包含如下几种类型参数:静态参数,动态参数,热参数。
质量流量控制器在新材料研发与生产领域,镀膜、涂层技术扮演着至关重要的角色。无论是赋予材料硬度、耐腐蚀性,还是实现精密光学性能、特定电学特性。
本文研究金属卤化物钙钛矿半导体材料CsPbBr3,通过徕卡超薄切片技术实现透射电镜的观察,探索这一钙钛矿材料的微观结构。
金现代芯片行业LIMS系统,通过实验室检验业务管理、设备预约排配、数据追溯与审计等功能,解决了芯片行业在检测数据、设备管理、数据追踪中的痛点。芯片行业LIMS系统保障了实验室检测数据完整性与可溯性。
用普赛斯这套国产化高精度数字源表+探针台的测试系统,可以为您完成任何晶圆、芯片、微小电子器件的测试。
作为新一代太阳能电池,钙钛矿太阳能电池在光伏领域展现出巨大的潜力。目前,钙钛矿电池正处在从实验室走向产业化的初期,由于其材料特性的影响,产业化I-V测试面临着巨大的挑战,传统的测试方案存在明显局限。数
U-III表面粒子计数器是一款专用于电子半导体、精密光学等领域的高灵敏度检测设备,通过激光散射技术和智能再悬浮系统,可量化分析0.1-10.0μm表面颗粒的浓度与粒径分布,为洁净度控制提供标准
有效管理离子交换树脂床,对于实现超纯水系统的最佳性能来说至关重要。再生和更换离子交换树脂时采取的预防性维护计划具有固定的实施频率和很强的时效性;与之相比,在混合树脂床和抛光环路树脂床后面连续实时监测超
普赛斯仪表开发的霍尔效应测试系统可以实现几千到至几万点的多参数自动切换测量,系统由S系列国产源表,2700矩阵开关和S型测试软件等组成。可在不同的磁场、温度和电流下根据测试结果计算出电阻率、霍尔系数、
本文选取某PCB盲孔样品,对其进行机械抛光+离子束抛光制备,获得平整、无损伤、无污染的断面,为盲孔内部显微组织的分析提供可参考的科学的制样手段。
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