
- 2025-04-10 14:45:28赛默飞世尔 TEM透射电镜 透射电子显微镜Glacios 2低温TEM
- Thermo Scientific Glacios 2低温透射电子显微镜(Cryo-TEM)是一种200千伏显微镜,可以方便地从各种生物目标收集近原子数据。与上一代相比,Glacios 2 Cryo-TEM提供了更高的吞吐量,并使低温EM更易于访问。它具有一个集成的Thermo Scientific Falcon 4i直接电子探测器、Thermo Scintific EPU软件和一个新的全外壳,这些结合在一起可以提高图像质量、自动化数据采集并简化您的工作。Glacios 2 Cryo-TEM非常适合单粒子分析、冷冻电子断层扫描(Cryo-ET)和微电子衍射(MicroED)应用。
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透射电镜问答
- 2020-10-27 13:29:04扫描电镜和透射电镜的区别
- 电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。 它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中,两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)。 在这篇文章中,将简要描述他们的相似点和不同点。扫描电镜和透射电镜的工作原理从相似点开始, 这两种设备都使用电子来获取样品的图像。 他们的主要组成部分是相同的; · 电子源;· 电磁和静电透镜控制电子束的形状和轨迹;· 光阑。所有这些组件都存在于高真空中。 现在转向这两种设备的差异性。扫描电镜(SEM)使用一组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子(详细了解SEM中检测到的不同类型的电子)。而透射电镜(TEM)是使用透射电子,收集透过样品的电子。 因此,透射电镜(TEM)提供了样品的内部结构,如晶体结构,形态和应力状态信息,而扫描电镜(SEM)则提供了样品表面及其组成的信息。 而且,这两种设备最明显的差别之一是它们可以达到的ZJ空间分辨率; 扫描电镜(SEM)的分辨率被限制在〜0.5nm,而随着最近在球差校正透射电镜(TEM)中的发展,已经报道了其空间分辨率甚至小于50pm。哪种电子显微镜技术最适合操作员进行分析?这完全取决于操作员想要执行的分析类型。 例如,如果操作员想获取样品的表面信息,如粗糙度或污染物检测,则应选择扫描电镜(SEM)。 另一方面,如果操作员想知道样品的晶体结构是什么,或者想寻找可能存在的结构缺陷或杂质,那么使用透射电镜(TEM)是wei一的方法。扫描电镜(SEM)提供样品表面的3D图像,而透射电镜(TEM)图像是样品的2D投影,这在某些情况下使操作员对结果的解释更加困难。 由于透射电子的要求,透射电镜(TEM)的样品必须非常薄,通常低于150nm,并且在需要高分辨率成像的情况下,甚至需要低于30nm,而对于扫描电镜(SEM)成像,没有这样的特定要求。 这揭示了这两种设备之间的另一个主要差别:样品制备。扫描电镜( SEM)的样品很少需要或不需要进行样品制备,并且可以通过将它们安装在样品杯上直接成像。 相比之下,透射电镜(TEM)的样品制备是一个相当复杂和繁琐的过程,只有经过培训和有经验的用户才能成功完成。 样品需要非常薄,尽可能平坦,并且制备技术不应对样品产生任何伪像(例如沉淀或非晶化 )。 目前已经开发了许多方法,包括电抛光,机械抛光和聚焦离子束刻蚀。 专用格栅和支架用于安装透射电镜(TEM)样品。SEM vs TEM:操作上的差异这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜(SEM)通常使用15kV以上的加速电压,而透射电镜(TEM)可以将其设置在60-300kV的范围内。 与扫描电镜(SEM)相比,透射电镜(TEM)提供的放大倍数也相当高:透射电镜(TEM)可以将样品放大5000万倍以上,而对于扫描电镜(SEM)来说,限制在1-2百万倍之间。 然而,扫描电镜(SEM)可以实现的ZD视场(FOV)远大于透射电镜(TEM),用户可以只对样品的一小部分进行成像。 同样,扫描电镜(SEM)系统的景深也远高于透射电镜(TEM)系统。表I:扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)之间主要差异的总结一般来说,透射电镜(TEM)的操作更为复杂。 透射电镜(TEM)的用户需要经过强化培训才能操作设备。 在每次使用之前需要执行特殊程序,包括几个步骤以确保电子束wan美对中。 在表I中,您可以看到扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)之间主要区别的总结。结合SEM和TEM技术还有一种电子显微镜技术被提及,它是透射电镜(TEM)和扫描电镜(SEM)的结合,即扫描透射电镜(STEM)。 如今,大多数透射电镜(TEM)可以切换到“STEM模式”,用户只需要改变其对准程序。 在扫描透射电镜(STEM)模式下,光束被精确聚焦并扫描样品区域(如SEM),而图像由透射电子产生(如TEM)。在扫描透射电镜(STEM)模式下工作时,用户可以利用这两种技术的功能; 他们可以在高分辨率先看到样品的内部结构(甚至高于透射电镜TEM分辨率),但也可以使用其他信号,如X射线和电子能量损失谱。 这些信号可用于能量色散X射线光谱(EDX)和电子能量损失光谱(EELS)。 当然,EDX能谱分析在扫描电镜(SEM)系统中也是常见分析方法,并用于通过检测样品被电子撞击时发射的X射线来识别样品的成分。电子能量损失光谱(EELS)只能在以扫描透射电镜(STEM)模式工作的透射电镜(TEM)系统中实现,并能够反应材料的原子和化学成分,电子性质以及局部厚度测量。在SEM和TEM之间做出选择从所提到的一切来看,显然没有“更好”的技术; 这完全取决于需要的分析类型。 当用户想要从样品内部结构获得信息时,透射电镜(TEM)是zui佳的选择,而当需要样品表面信息时,扫描电镜(SEM)是shou选。 当然,主要决定因素是两个系统之间的巨大价格差异,以及易用性。 透射电镜(TEM)可以为用户提供更多的分辨能力和多功能性,但是它们比扫描电镜(SEM)更昂贵且体型较大,需要更多操作技巧和复杂的前期制样准备才能获得满意的结果。关于作者Antonis NanakoudisAntonis Nanakoudis是Phenom-World的应用工程师,后者是世界ling先的桌面扫描电子显微镜供应商。Antonis致力于拓展Phenom飞纳电镜在不同的领域的应用,并且不断地探索、创新更多的使用技巧。(来源:复纳科学仪器(上海)有限公司)
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- 2020-10-16 10:00:10应用分享丨透射电镜中自动化纳米颗粒分析对于催化剂领域的应用
- 众所周知,催化是现代工业中极其重要的领域,大约90%的工业流程都与催化有关。在催化过程中,我们利用催化剂来改变化学反应速率,对化学反应进行选择和调控。催化在合成氨工业、石油炼制、精细化学的合成、高聚物的合成、食品加工以及光催化和电催化等新能源领域起到非常重要的作用。大量的催化基础和应用研究显示, 催化反应事实上是发生在纳米尺度上的反应, 不论是液相的原子簇催化剂, 担载的金属和金属氧化物催化剂, 抑或多孔的分子筛催化剂, 它们体现催化活性的活性ZX的尺度就在纳米甚至亚纳米尺度,譬如优良的燃料电池催化剂中贵金属Pt的粒子平均直径大约2~3纳米,而绝大多数贵金属催化剂纳米颗粒的尺寸都在1纳米至100纳米之间。而对于获得此类纳米尺度的催化剂颗粒的微观形貌和成分信息,高分辨率透射电子显微镜配合X射线能谱是一种无可替代的表征方式。使用高分辨率透射电子显微镜,我们可以直接得到催化剂纳米颗粒的大小、形状、化学组成以及在载体上的分布位置等相关参数。而想要得到具有统计相关性并且高JZ度的数据,取决于纳米颗粒形貌的规则性,少则500个颗粒,多则几千个颗粒,都需要进行独立的电镜表征和参数分析。目前,研究人员通过手动图像采集和表征,一天最多大约能分析30个颗粒,所以通常情况下,表征一个样品需要数天的时间,这是一个枯燥以及漫长的工作过程。Thermo ScientificZX推出的自动化纳米颗粒表征工作流程APW (Automated Particle Workflow),基于高分辨率透射电子显微镜平台,结合独特的大视野高分辨图像采集软件MAPS,电镜操作软件Velox以及先进的Avizo图像数据分析处理软件,进行全自动化图像采集以及实时的纳米颗粒数据分析。APW提供整体优化解决方案,以全自动化和无人值守的方式采集数据和进行动态数据处理。APW帮助客户摆脱手动费时和繁琐的催化剂纳米颗粒分析,并且在此过程中,无需透射电镜专家的介入,操作就如同使用咖啡机一样容易。APW可以帮助实现更快的样品周转率,有效利用透射电镜运行时间,通过无人值守和可重复过程来降低每个样品的表征成本,并通过强大而快速的新材料筛选来实现新产品开发的革新过程。通过使用APW,客户有更多的时间从事与研究相关的工作,并以更高的统计量和更高的JZ度来表征更多的催化剂样品。图1丨使用APW进行自动化大面积TEM图像采集以及单个纳米颗粒参数分析. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.图2丨使用APW进行混合金属纳米颗粒镍/铁/银/锌样品的图像采集和参数分析. 不同的颜色代表了不同的金属元素。图3丨图2中镍纳米颗粒参数的统计分析。不同的颜色代表不同的颗粒大小,左下图展示了镍纳米颗粒的表面积和直径的统计分布,右图中展示了具体的单个纳米颗粒的直径和表面尺寸等参数。图4丨氧化铝载体上的金纳米催化剂颗粒的APW数据采集和分析展示,下图显示了金纳米颗粒的直径参数统计分布。
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