做光谱分析的您,是不是也常被这些难题困住?谱线展宽模糊,无法区分波长极近的信号;杂散光干扰严重,微弱信号根本测不到;成像变形失真,定量分析误差居高不下……这些问题的核心瓶颈,正是光谱仪难以规避的光学像差。
深耕光谱领域20余载的卓立汉光,带着全新解决方案来了 ——Omni-500S系列500mm焦距影像校正光谱仪新品上市,以多项针对性升级,用 “小改动” 实现性能的 “大跨越”,重新定义光谱分析的精度上限。
从第一款国产通用型三光栅光谱仪,到全焦面影像校正光谱仪的迭代,卓立汉光始终走在国产光谱技术的创新道路上:
公司首款通用型三光栅光谱仪实现量产。
推出 Omni-λ 谱王系列,同步研发双级联、三级联光谱仪。
Omni-λ-i 影像谱王系列问世,性能接轨国际高端产品。
第二代影像谱王发布,双入口结构进一步提升应用性能。
陆续推出 HiperS-320i、Omni-300S、Omni-750S 系列,影像质量与分辨率实现跨越式提升。
Omni-S 系列再添新成员,Omni-500S 影像校正光谱仪正式亮相,为光谱分析带来全新可能。
作为本次升级的核心亮点,Omni-500S 搭载的多曲面影像校正技术,可有效校正像散、彗差等多种光学像差,全面优化系统分辨率、对比度与信噪比。
对比实验显示,经校正后的谱线更窄更锐利,半高全宽(FWHM)显著降低,可轻松分辨波长差异更小的光谱细节;光纤束成像清晰无拖尾,从根源上降低定量分析的误差。
仪器箱体采用硬模铸造一体成型工艺,抗拉强度、屈服强度等机械性能全面升级,可极大提升光谱仪的长期运行稳定性,哪怕在复杂的实验与工业环境中,也能保持性能稳定不漂移。
优化后的光路设计,让仪器收光效率提升15%,哪怕是极微弱的光谱信号,也能实现精准捕捉;
轻量化结构设计让整机减重约10%,安装、移动更灵活,大幅提升实验室场景的使用便利性。
针对传统光谱仪紫外波段光栅多次衍射产生的杂散光难题,Omni-500S采用非对称光路结构,结合专属光路优化设计,彻底消除该类杂散光,大幅提升系统信噪比,保证输出光谱的纯净度,让弱信号探测不再困难。
仪器搭载拥有自主发明专利(专利号:ZL 202310878354.5)的自动对焦系统,可独立精准控制各光栅的焦距,切换光栅时自动匹配最佳性能,同时适配多种不同焦深的相机,让光谱仪在全波段范围都能保持最佳的分辨率与成像质量,完美满足复杂的多场景实验需求。
仪器的出入口可灵活适配多种规格的光源、探测器、相机、光纤等外部设备,同时配套丰富的可选配件,无需额外定制改造,一台设备即可覆盖多种测试场景,大幅降低用户的配套成本。
配套软件搭载智能化分析与控制平台,具备强大的智能数据处理能力,支持实时谱图显示、数据拟合分析、多谱图对比、测试数据自动保存,界面友好、操作简单,大幅简化测试流程,降低仪器使用门槛,让新手也能快速上手完成专业光谱测试。
凭借全面升级的性能与灵活的适配能力,Omni-500S光谱仪可广泛覆盖科研与工业的多元场景:
科研领域:拉曼光谱、荧光光谱、等离子体光谱测量、角分辨光谱、多通道光谱检测、微生物光谱识别等
工业领域:透射 / 反射光谱测量、镀膜膜厚监测、燃烧诊断、激光诱导击穿光谱、光电探测、可调光源配套测试等
从第一款光谱仪到全新 Omni-500S 系列,卓立汉光始终以研发创新为核心,深耕光谱技术领域,不断突破国产高端科学仪器的性能边界。未来,卓立汉光也将持续以技术创新为驱动力,为广大科研与工业用户提供更优质、更可靠的光谱仪器解决方案,助力中国高端科学仪器的自主可控与创新发展。
往期回顾
小卓课堂 | 光谱仪解析:光栅原理及选择方法
光谱仪集结 | 从影像校正到高光通量,解锁光谱测量无限可能
光谱仪系列 | 光栅光谱仪、单色仪、光纤光谱仪、软X射线光谱仪等系列产品
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