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【全新力作】多角度见证微观世界,NS-180Z系列纳米粒度电位分析仪实力登场!

来源:珠海欧美克仪器有限公司 更新时间:2026-04-01 09:45:32 阅读量:1517
导读:微观无小事,精准见真章

“工欲善其事,必先利其器”,纳米科学与技术作为国家战略新兴科技的核心赛道,2026 年正迎来产业化应用的全面提速。Mordor Intelligence?数据显示,2026 年全球纳米材料市场规模达 481.2 亿美元;据探角行业报告,2025 年中国纳米材料全产业规模已破 5000 亿元、占全球 30% 以上,2026-2030 年仍将保持 13.5% 复合增长,新能源、生物制药、精细化工成为核心驱动领域。


纳米 zeta 电位测量是纳米材料研发、生物制药制剂优化、精细化工生产的核心技术,360 Research Reports 数据显示,2026 年全球 zeta 电位分析仪市场规模预计达 72.29 亿美元,材料科学、制药配方、精细化工等领域超 60% 的核心实验与质量控制均依赖该技术。它如同纳米世界的 “电荷导航仪”,精准解析颗粒表面电荷特性,为产品性能优化、工艺研发提供关键科学依据。


2026 年,纳米材料、生物制药及精细化工领域的样品复杂性日益增加 —— 从极低浓度的蛋白质单体到高浓度的锂电池浆料,从易聚集的胶体到强荧光的量子点,对测量仪器的适配性、精准度要求持续提升。NS-180Z Plus/Pro 专为前沿科研与高端工业质检打造,是旗舰级纳米粒度及 zeta 电位分析仪,它不仅是精密测量设备,更是实验室中值得信赖的 “纳米数据专家”。


▲ NS-180Z系列纳米粒度电位分析仪


广泛的应用领域与行业适应性

OMEC


NS-180Z Plus/Pro的设计初衷即为“通用性”。它不仅仅是一台物理实验室的仪器,更是跨行业解决方案的核心设备。凭借其卓越的性能,广泛应用于生命科学、新能源、新材料、化工等多个前沿领域,成为推动行业技术进步的关键工具。


学术与科研

在高校和研究所,NS-180Z Plus/Pro 是纳米材料、胶体化学及生物物理研究的基础工具 。其高灵敏度允许研究人员探测极微量的样品,这对于合成初期珍贵的纳米材料至关重要。


生命科学与制药

  • 蛋白质稳定性研究:在抗体药物(mAb)研发中,NS-180Z Plus/Pro 可监测不同pH值、离子强度、温度条件下的粒径变化,早期发现聚集风险,辅助处方筛选与工艺优化。其高灵敏度可检测出微小的构象变化。

  • 病毒载体表征:针对腺相关病毒(AAV)、慢病毒等基因治疗载体,测定病毒滴度、空实壳比例与粒度的关联性,评估纯化工艺效果,确保基因药物的有效性。

  • 脂质体与mRNA疫苗:在mRNA疫苗研发中,脂质纳米颗粒(LNP)的粒径均一性与zeta电位直接决定包封率与体内递送效率。NS-180Z Plus/Pro 可直接测量原液,真实反映LNP状态,助力疫苗快速上市。

  • 辅料与添加剂质控:对表面活性剂、聚合物辅料进行分子量与粒径筛查,确保原料质量一致。



纳米材料与精细化工

  • 碳纳米材料:评估石墨烯、碳纳米管的剥离效果、粒径分布及功能化改性程度,优化制备工艺。

  • 纳米乳液与化妆品:预测乳液、面霜、精华液的货架期稳定性。通过zeta电位快速筛选乳化剂配方,防止分层、絮凝,提升产品质感。

  • 颜料与油墨:控制喷墨打印墨水、汽车漆中颜料颗粒的粒径分布,确保打印流畅性、色彩饱和度与涂层光泽度。

  • 环境科学:监测水体中纳米污染物(如微塑料、金属氧化物纳米颗粒)的迁移转化行为,评估生态风险。


新能源与锂电池材料

  • 正负极浆料原位分析:直接测量高固含量(>30%)的锂电浆料,无需稀释,真实反映颗粒分散状态与团聚情况,指导分散剂选型与研磨工艺,提升电池倍率性能与循环寿命。

  • 陶瓷隔膜涂层:监控氧化铝、勃姆石等陶瓷颗粒的粒径分布与zeta电位,防止团聚导致的涂层不均,消除电池针刺隐患,提升安全性。

  • 电解液添加剂研究:在高电导率电解液环境中,利用恒流模式准确测量添加剂颗粒的zeta电位,优化配方稳定性。



样品浓度适应性

高灵敏度与宽动态范围

OMEC


测量范围的宽窄和灵敏度的高低是评价光散射仪器性能的核心指标,也是难以兼顾的难题。传统检测技术在面对高浓度或不透明样品时,常因多重散射效应导致数据失真,迫使实验人员进行繁琐且可能引入误差的稀释操作。稀释过程可能会破坏颗粒原有的分散状态或双电层结构。


NS-180Z Plus/Pro引入了马尔文帕纳科专利的NIBS非侵入背散射光学技术,检测角度固定在173°大角度背散射位置。它在不影响性能的情况下较大程度地扩大动态范围,提高仪器灵活性,从而在确保高灵敏度的同时达到样品处理浓度、颗粒大小测量的极限。即使是处理高浓缩样品,也能实现高灵敏度。


专利NIBS技术使仪器更灵敏


在背向173o检测样品散射光,样品散射体积是传统90o下的8倍,在有效避免池壁反射的同时能够得到更多散射光强。


更高的灵敏度使仪器能够检测极低浓度至0.2 mg/mL的样品。


智能化样品测量定位系统,极大降低了多重光散射效应,可以有效检测浓度高至40% w/v的样品。


▲ 专利非侵入背散射(NIBS)技术

检测点可以在样品池中间到边缘的任意位置移动


复杂介质中的zeta电位金标准

M3-PALS + 恒流模式

OMEC


Zeta电位是表征胶体分散体系稳定性的关键指标。在实际应用中,许多样品处于高盐浓度(如生理盐水缓冲液、细胞培养液)或低介电常数溶剂(如某些有机合成体系)中。传统PALS相位分析光散射恒压模式(Constant Voltage)技术在高盐环境下易受电极极化影响,导致测量误差增大。高电导率会导致电流过大,产生焦耳热效应,引起样品对流,干扰电泳迁移率的测量;或者为了限制电流而降低电压,导致电场强度不足,颗粒迁移速度过慢,信噪比极差,无法获得有效数据。


NS-180Z Plus/Pro搭载了马尔文帕纳科专利的 M3-PALS,混合模式相位分析光散射 技术与恒流模式(Constant Current Mode),彻底解决了电泳光散射测量的难题。


▲ 传统PALS电泳的电渗效应 VS M3-PALS电泳不受电渗影响


▲ 恒流模式下的电压变化


智能算法与数据分析

自相关智能算法及动态采样

OMEC


动态光散射的数据质量取决于对光强的采集和自相关计算。


传统方法往往采用固定的采样时间策略,可能导致时间不足(数据噪声大),或为了获得高质量数据而时间过长(效率低),且难以平衡“快速筛查”与“精细分析”的需求。此外,样品中若存在微量大颗粒(如灰尘、团聚体),往往会掩盖主峰信号,导致结果偏差。


NS-180Z Plus/Pro搭载的自相关智能算法引擎采用动态采样策略。系统实时分析光子计数统计特性,动态调整相关器的采样时间窗口和累积次数。对于单分散性好的样品,自动缩短测量时间,最短子测量时间可缩短至1.68s;对于多分散或弱信号样品,自动延长采集时间以确保信噪比。这种“因样而异”的策略,使整体测试效率提升 50% 以上。实现了速度与质量的平衡 。


▲ 软件自动优化测量过程


典型测试案例

OMEC


良好的重现性


▲ 60nm标号乳胶微球标样(Thermal,标称值:62±3nm)


卓越的分辨力


▲ 60nm、200nm双标样混合样品


极限小分子粒径测试及稳定的团聚体检出


▲ 25%蔗糖溶液


Zeta电位和电位分布的测量





▲ ZTS1240电位标样




方式1:

拨打售前热线:400-902-5338、18675639766

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