不管是我们身边常见的金属材料或是高纯度的金属材料，都存在一定量的杂质元素。材料中含有的不同元素，相同元素的不同含量，都会显著影响金属的机械性能、耐腐蚀性及热稳定性等各种性能。随着科学的进步和人类对材料性能研究的不断深入，对材料中痕量元素分析的要求也越来越高。深入、准确分析金属中的杂质元素及其对性能的影响，对于提升材料的综合性能，优化工艺参数，综合、有效利用宝贵的矿产资源具有重要意义。
因此，在直读光谱仪中，如何降低分析下限，提供更多的痕量元素分析结果和信息，也成为材料研究和生产中越来越重要的课题。
从上面检出限的计算公式可以看出，在其他条件不变的情况下，背景强度相对于信号强度越低，也就是信噪比越高，那么检出限就越低。所以，提高信噪比，降低背景强度相对于信号强度的比值，是降低检出限的有效办法。
上图展示了一个火花激发过程随时间变化的光强信号情况。从图中可以看出，在火花初始阶段，各信号强度最高，信号也最复杂。随着电流和背景的消失，在余晖阶段得到更“纯净”的光学信号。在TRS 窗口阶段，信号整体强度较高，杂质信号强度很低，是具有平衡的稳定性和信噪比的区域。
图（1）
图（2）
通过对信号进行μ秒级的扫描记录，可以对激发过程中随时间推移的强度分布进行分析。上面两图展示了某样品与空白样品在某波长处一个火花时间内测量强度的变化。图（1）中空白标记的区域，虽然光强度比较高，但是空白样品也有明显的强度信号。而图（2）空白标记的区域虽然光强度比较低，但是空白样品几乎没有强度信号。在这个区域，信号和噪声的比值比其他区域要高的多。所以，如果针对此区域进行强度的测量和处理，就能得到此波长对应元素的更低的检出限。
这一技术为多个关键领域提供了坚实的分析基础与技术支持。在生产质量监控环节，斯派克光谱仪能够实现高速、在线成分分析，大幅提升检测效率与工艺控制水平；在科学研究中，其低检出限与高稳定性为材料分析提供了可靠的数据保障，为痕量元素的分析提供了基础。
作为光谱技术领域的传统领先品牌，斯派克始终以其深厚的技术积淀与卓越的光学设计能力闻名。通过将经典光学技术与创新的 CMOS+T技术相融合，斯派克为现代光谱仪注入了更强大的性能与可靠性。在持续的技术整合与创新驱动下，斯派克正不断推动分析仪器向更智能、更精准、更稳定的方向演进，助力用户从容应对日益复杂的应用挑战。
关于斯派克
是专业的原子发射光谱仪生产厂家。恰如其名，SPECTRO 以光谱及光学技术见长，提供:直读光谱仪、 电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、X射线荧光光谱仪（XRF）、便携式光谱仪、手持式X荧光光谱仪等，广泛应用于工业、研究和学术领域中的材料元素分析。
400 022 7699
www.spectro.com.cn
关于阿美特克
阿美特克(纽交所代码:AME)是工业技术解决方案的全球供应商，服务于各种具有吸引力的利基市场，年销售额超过70亿美金。阿美特克增长模式整合了四大增长战略 一卓越运营、新产品开发、全球和市场扩张、以及战略收购一并严格关注现金生成和资本部署。阿美特克的目标是在整个业务周期内实现每股收益两位数的百分比增长，并实现总资本的卓越回报。阿美特克成立于1930年，在纽约证券交易所上市已有90多年的历史，是标准普尔500指数的成分股之一。
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