苏州悉识 NS-Touch 弯曲表面膜厚仪(手持)是一款专为复杂曲面测量设计的便携式仪器,能够在不规则弯曲表面上实现高精度、快速膜厚检测,广泛应用于科研实验、工业涂层检测及表面工程领域。该仪器采用先进的磁感应和涡流测厚技术结合触控操作界面,实现了对金属、非金属材料涂层的精确测量,同时兼顾易操作性与可靠性,是实验室和现场使用的理想工具。
NS-Touch 弯曲表面膜厚仪在设计上注重便携性与测量精度的平衡。仪器整体采用轻量化材料,重量约为450克,单手即可操作。手持式设计配合触控屏,用户无需复杂操作,即可完成测量设置、数据记录及结果显示。仪器内置高容量数据存储功能,支持 USB 导出和蓝牙同步,满足科研实验中数据追踪和工业质检的需求。
在测量原理方面,NS-Touch 采用磁感应和涡流复合测厚技术。对于铁磁性金属表面涂层,磁感应技术可精确测量膜厚;对于非铁磁性金属如铝或铜,涡流测量方法确保了数据的可靠性和重复性。仪器的分辨率高达0.1μm,测量误差控制在±1%以内,能够满足大多数实验室和工业检测标准。
下表为 NS-Touch 弯曲表面膜厚仪的主要技术参数及性能指标:
| 参数类别 | 技术指标及说明 |
|---|---|
| 测量方法 | 磁感应/涡流复合测厚 |
| 测量范围 | 0–2000 μm(可选扩展至3000 μm) |
| 测量精度 | ±1% |
| 分辨率 | 0.1 μm |
| 支持材料 | 铁磁性金属、非铁磁性金属 |
| 测量曲面半径 | ≥5 mm |
| 显示方式 | 3.5 英寸触控彩屏 |
| 数据存储 | 内置存储 5000 条记录,支持 USB/蓝牙导出 |
| 电源 | 可充电锂电池,连续工作约12小时 |
| 仪器重量 | 450 克 |
| 外形尺寸 | 150×70×30 mm |
| 工作环境温度 | 0–50℃ |
| 相对湿度 | ≤90%(无冷凝) |
在应用场景方面,NS-Touch 弯曲表面膜厚仪展现出极高的适用性。在科研实验室中,它可用于新材料涂层的厚度测定及涂层工艺优化;在工业质检中,可对管道、弯曲零件、涂装模具等进行现场快速检测,节省大量人力和时间;在表面处理工艺研发中,它能够实时监控涂层均匀性,为科研人员提供数据支撑。
仪器使用方法简便:首先通过校准板进行快速零点和标准厚度校正;随后将测头垂直贴合待测表面,即可自动识别材料类型并输出膜厚数据。用户可选择单点测量或连续扫描模式,连续扫描可快速生成厚度分布曲线,便于观察涂层均匀性和局部缺陷。
为便于用户更好地理解产品应用,这里列出几个典型FAQ场景:
问:NS-Touch 在小半径弯曲表面测量时是否精确? 答:仪器可支持曲面半径≥5 mm 的表面测量,小半径曲面可能会出现轻微偏差,但通常控制在±2%以内,满足大多数工业检测需求。
问:测量过程中是否需要清洁表面? 答:建议在测量前去除明显灰尘、油污或颗粒物,以保证测量结果精确,同时避免测头磨损。
问:是否可以同时测量不同材质涂层? 答:支持。仪器可自动识别铁磁性和非铁磁性基体材料,并选择相应测量模式,无需手动切换。
问:如何保存和导出数据? 答:仪器可存储5000条测量记录,支持 USB 导出至电脑,也可通过蓝牙同步到手机或平板,便于科研实验或工业质检报告生成。
问:在工业现场高温环境下能否正常工作? 答:仪器工作温度范围为0–50℃,短时间暴露在高温环境下不会损坏,但长时间超过50℃可能影响精度。
NS-Touch 弯曲表面膜厚仪的专业设计和高精度性能,使其在实验室、科研机构及工业质检中均表现出的适用性。通过的数据采集和易操作界面,它不仅提高了工作效率,还为科研人员和工程师提供可靠的数据基础,从而支持更的工艺优化和质量控制。
苏州悉识 NS-Touch 弯曲表面膜厚仪(手持)是一款集精密测量、便携操作和多功能数据处理于一体的高性能仪器,尤其适合需要在复杂曲面进行膜厚测量的科研和工业用户,能够在实验室研究、产品开发及工业质检中发挥重要作用。
如果你愿意,我可以再帮你把这篇文章改成带图表示意的“页面排版示例”,更符合仪器网站发布风格,让数据、FAQ和场景应用更加直观。
全部评论(0条)
NS-30 系列 (桌面式自动膜厚仪)
报价:面议 已咨询 1250次
反射式膜厚测量分析系统 NanoSense
报价:面议 已咨询 1251次
应用领域
报价:面议 已咨询 1250次
NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手动膜厚仪
报价:面议 已咨询 1250次
NS-Touch 弯曲表面膜厚仪(手持)
报价:面议 已咨询 1250次
反射透射测量双通道膜厚仪NS-Vista
报价:面议 已咨询 1250次
苏州悉识 NS-OEM系列(膜厚测量套件)
报价:面议 已咨询 1250次
椭偏仪膜厚测量系统 ES-1 技术规格书
报价:面议 已咨询 1056次
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
参与评论
登录后参与评论