悉识科技NS-30系列是针对实验室、科研及工业质检场景开发的高精度自动化膜厚检测设备,聚焦多模式兼容与智能扫描分析,解决传统手动膜厚仪效率低、误差大的痛点,适用于金属镀层、薄膜材料、涂层等多类型样品的厚度表征。
搭载闭环控制XYZ三轴运动平台,重复定位精度达±0.5μm,支持点测、线扫、面扫自定义路径;自动聚焦功能可在0.3-5mm工作距离内快速锁定样品表面,扫描速度0.1-5mm/s可调,适配柔性薄膜、刚性金属板等不同样品类型。
支持3种主流模式,覆盖90%以上膜厚场景:
内置AI算法自动剔除异常值,数据实时显示并支持CSV/Excel导出;可存储1000组以上样品数据,支持按批次、编号检索,满足ISO 17025质检体系可追溯性要求。
整机尺寸400×300×250mm,适配实验室通风橱、质检台等有限空间;集成7英寸电容屏与手动/自动切换旋钮,操作流程简化至3步(样品放置→参数设置→启动扫描)。
| 参数项 | 具体指标 |
|---|---|
| 涡流模式测量范围 | 0.1-500μm(非磁性基体+金属膜) |
| 磁感应模式测量范围 | 0.2-1000μm(磁性基体+非磁性膜/漆层) |
| 可选XRF模式范围 | 1nm-100μm(多层薄膜/纳米级) |
| 重复精度 | ±0.1%读数 + 0.05μm |
| 线性度 | ±0.2%FS(满量程) |
| XYZ三轴重复定位精度 | ±0.5μm |
| 扫描速度 | 0.1-5mm/s(可调) |
| 数据存储容量 | ≥1000组样品数据(含路径、参数) |
| 电源要求 | AC100-240V,50/60Hz,功耗≤50W |
NS-30系列通过效率提升3倍(对比手动膜厚仪)、误差控制在0.1%以内的核心优势,成为实验室质检、科研表征的高性价比选择;模块化设计支持后期升级XRF功能,适配行业技术迭代需求。
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