赛默飞世尔 Neoma™ MS/MS MC-ICP-MS质谱仪特点

核心技术架构（双聚焦+MS/MS协同）

赛默飞Neoma™整合双聚焦磁质谱与串联四极杆反应池核心技术，突破传统MC-ICP-MS的干扰瓶颈：

• 双聚焦离子光学系统：扇形磁场（质量分离）+静电场（能量聚焦）组合，动态切换分辨率（低300、中3000、高10000+）；低分辨率下离子传输率≥80%，高分辨率可分离多电荷离子（如²³⁸U²⁺与¹¹⁹Sn⁺）；
• 串联四极杆反应池（QqQ-MS/MS）：内置碰撞/反应池（CRC），可通入NH₃、O₂等反应气；选择性消除质谱干扰（如ArO⁺对⁵⁶Fe、ZrO⁺对⁹⁸Mo），干扰抑制比≥10⁴；
• 多接收器检测系统：10个法拉第杯（常量元素，丰度10⁰~10¹²）+1个离散打拿极SEM（痕量元素，丰度10⁻⁶~10⁻¹²），单仪器实现宽丰度覆盖；
• 高效离子源：优化RF聚焦透镜与屏蔽炬，离子传输效率较传统MC-ICP-MS提升35%；空白基体背景噪声<0.05 counts/s。

关键性能参数（实测数据）

典型应用场景（行业适配性）

针对实验室、科研及工业需求，Neoma™覆盖多领域高精度分析：

• 地质年代学：单颗粒锆石U-Pb定年，精度0.08%（2σ），支持<10 ng样品量分析；
• 环境监测：长江口海水REE分析，无需预富集，检出限<0.3 ppt，回收率92%~105%；
• 核材料检测：铀/钚同位素比值分析，符合IAEA标准，背景干扰<0.01 counts/s；
• 半导体质控：14nm制程晶圆痕量金属（Fe、Cu）分析，满足ASTM F1710标准（检出限<1 ppt）；
• 生物医药：血清Pb同位素溯源，精度<0.1% RSD，助力暴露风险评估。

总结

Neoma™通过双聚焦与MS/MS的技术协同，解决了复杂基体中质谱干扰的核心痛点，兼顾高分辨率、高灵敏度与宽丰度分析能力，是地质、环境、核工业及高端制造领域高精度元素/同位素分析的优选工具。