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红外隐身涂层发射率如何测量?

来源:旭阿科技(上海)有限公司 更新时间:2025-08-18 13:30:27 阅读量:663
导读:本文介绍一款符合《GJB 2502.3-2006 航天器热控涂层试验方法 第三部分:发射率(国家军标)》标准的RLK650 pro便携式红外发射率测量仪。

几乎每个人的孩童时期都幻想自己能有一身隐形衣,穿上就能让别人看不见自己。而在真实世界中,这种技术正通过一种神奇的材料变为现实:红外隐身涂层。无论是歼-35的次亮相宣告中国正式迈入“双隐形战机时代”,还是歼-36的新型隐形蒙皮打破美国在隐身技术上的垄断,其中都蕴含着材料红外发射率的精确操控。

image.png

一、红外发射率

根据基尔霍夫热辐射定律,处于热力学平衡态的不透明物体,其对特定波长辐射的光谱吸收率(αλ)恒等于其同温度、同波长的光谱发射率(ελ),即:αλ=ελ。发射率ε定义为物体实际表面在给定温度T、波长λ下的辐射出射度与同温度、同波长下理想黑体辐射出射度之比,取值范围在0到1之间。

所有物体都在持续向外散发红外辐射,隐身装备(如飞机)因发动机工作或气动摩擦产生的热量,在红外探测器下如同黑夜中的火炬般显眼。降低这种可探测性的关键,在于控制物体表面的红外辐射特性,降低其被红外探测系统发现的概率,而发射率是衡量这一调控效果的关键参数。

二、测量方法——GJB 2502.3-2006

根据《GJB 2502.3-2006 航天器热控涂层试验方法 第三部分:发射率(国家军标)》,将发射率测量方法分为半球发射率稳态量热计法、法向发射率、辐射计法及反射法—便携式等。

1.半球发射率稳态量热计法测定航天器热控涂层被测试样和参比试样的半球发射率。

半球发射率测试范围为0.03~0.98,测试精度为0.01。

将试样置于真空冷壁中,其热辐射可由外加电功率来补偿。按公式计算试样半球发射率。

图片1.png

式中:

εH—半球发射率;

U1——标准电阻的端电压,单位为伏(V);

U——主加热器的端电压,单位为伏(V);

σ——斯忒藩一玻耳兹曼常数,其值为5.67×10……-8,单位为瓦每平方米每四次方开(W/(m2K4))

F——试样热辐射的表面积,单位为平方米(m2);

R——标准电阻的电阻值,单位为欧姆(Ω);

T1——试样温度,单位为开(K);

T2—真空冷壁的平均温度,单位为开(K)。

热量.png

2.法向反射率法:测定航天器热控涂层被测试样的法向发射率。

法向发射率测试范围为0.04~0.98,测试精度为0.015。

通过测试同一温度下被测试样的辐射指示值和黑体腔的辐射指示值,按公式(2)计算被测试样的法向发射率。

图片2.png

式中:εn——被测试样的法向发射率;Φs——从检测仪器上读出的被测试样辐射指示值;Φb——从检测仪器上读出的黑体腔辐射指示值。

3.辐射计法:测定航天器热控涂层被测试样的半球发射率。

半球发射率测试范围为0.03~0.95,测试精度为0.015。

辐射计探测器的输出信号与被测试样的发射率成线性关系,通过比较辐射计配备的高、低发射率参比试样和被测试样输出信号的大小,直接得到被测试样的发射率。

4.6反射法一便携式:测定航天器和零部件表面热控涂层的半球发射率。

半球发射率测试范围为0.04~0.95,测试精度为0.015。

通过探测器检测到的椭球腔体里所有反射能,按下列公式计算试样的半球反射率。

图片3.png

式中:

ρ——试样的半球反射率;

Ip——检测到的能量,单位为瓦每平方米(W/m²);

TIR——红外辐射源温度,单位为开(K)。

当试样为不透明时,试样的半球发射率按下列公式计算。

图片4.png

三、反射法一便携式发射率测量

发射率是红外隐身涂层“隐身能力”的直接体现,其测量贯穿于材料研发、生产质控、性能评估、方案验证的全流程。准确测量发射率,才能确保红外隐身涂层从设计到应用的每一步都可控、可靠,最终实现预期的隐身效果。

RLK650pro②。(1).png

RLK650 pro便携式红外发射率测量仪,是新型的光电测量仪器,可充分满足测试需求,广泛应用于材料表面红外发射率的测量、材料研究、性能评估。

设备特点

·测量原理:积分半球反射法测量原理;

·测量波段:3-5 μm & 8-14 μm双波段测量准确度高;

·测量体积更小、重量更轻;

·测量精度进一步提升;

·测量速度更快,测量效率更高;

·结构设计更为精巧,美观可靠;

·彩色触摸屏设计, 全中文界面一目了然;

·支持MicroSD卡存储,TXT文件格式,方便后续数据分析。

旭阿科技具有丰富的发射率测量仪代理经验,欢迎读者留言咨询。

标签:   便携式反射率测量仪   手持式反射率测量仪   红外发射率测量仪
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