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FIB/SEM双束电镜

 
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FEI FIB双束扫描电子显微镜Helios 5 DualBeam
  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号:Helios 5 DualBeam
  • 产地:捷克
  • 用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。

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