日立 FT230型X射线荧光测厚仪(正比例计数器)
台式XRF光谱仪(RoHS)
日立 EA8000A X射线分析仪异物(锂离子电池品控)
台式XRF光谱仪(RoHS) | EA1000AIII, EA1400 & EA6000VX
日立 台式 XRF 光谱仪 | Lab-X 和 X-Supreme 系列
EA1000AIII和EA1400 XRF分析仪专为RoHS(有害物质限制)设计,15年来一直受到信任,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。在专用RoHS分析的EA1000系列和RoHS、镀层和元素分析的EA6000范围之间进行选择。
为什么选择日立 XRF RoHS 分析仪?
●操作方便
●自动采样
●灵活校准以适应新的RoHS标准
●自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果
●快速测量
●大样品舱满足各种样品
●视听测量指示器
●添加镀层和元素分析的选项
EA1000AIII
●探测器:硅半导体检测器(无需液氮)
●塑料中Cd、Pb、Hg、Br、Cr的测量时间*:小于70秒
●高浓度BrSb塑料中Cd、Pb、Hg、Cr的测量时间*:小于230秒
●元素范围:Al(13)至U(92)
●样品状态:固体/粉末/液体
●测量面积:1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ(电动开关)
●样品舱:宽370×深320×高120毫米
●过滤器:5个位置
●样品观察:CCD全彩摄像机
●操作:台式机的笔记本电脑
EA1400
●探测器:SSD(无需液氮)
●元素范围:Al(11)至U(92)
●样品状态:固体/粉末/液体
●测量面积:1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ(电动切换)
●样品舱:宽304×深304×高110毫米
●过滤器:4款,5种模式,自动切换
●样品观察:CCD全彩摄像机
●操作:台式机电脑
EA6000VX
●探测器:高分辨率SDD
●元素范围:Mg-U(使用氦吹扫时为Mg-U)
●样品舱设计:封闭式
●XY 轴样品台选择:自动台
●最 大样品尺寸:270 x 220 x 150 毫米
●最 大数量准直器:4
●滤光片:6 种模式自动切换
●最小的准直器:0.2 毫米
●X-ray Station & Mapping Station 软件
*注:总测量时间是指达到统计误差(3西格玛)所需的时间,Cd为20ppm,其他元素为100ppm(在日立推荐的条件下测量)。
报价:面议
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NEXTA DSC被用于不同的热分析领域,包括聚合物、制药、电子、化学、学术研究、石油和天然气、食品和金属等,以对热流进行测量从而获得材料特性。其可测量熔点、玻璃化转变和结晶等热性能。
日立 FT230型X射线荧光测厚仪(正比例计数器)包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器,并集成先进且易于使用的功能,旨在增强大批量测试需求。
动态热机械分析仪(DMA)技术提高了测量玻璃化转变、材料硬度以及频率对机械特性影响的灵敏度。它测量材料的粘弹性。DMA分析仪对于应用研究和材料开发领域的产品工程师来说是可靠的,它为简单和复杂材料的机械性能提供精确的测量。
EA1280 XRF分析仪专为RoHS(有害物质限制)设计,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。
我们的DSC(差示扫描量热仪)广泛用于材料表征,如熔点、玻璃化转变、结晶。DSC7000用于众多行业的质量控制和研发中,包括聚合物、制药、化工、石油和天然气、食品和金属。日立的DSC能够提供优秀的灵敏度和基线平坦度,从而提供更精确的试验,并能评价微小的反应。
这是集成于仪器的可选附件,在进行热测量期间,其可被用于观察样品。图像显示样品形状、样本量、颜色及其他属性的变化。可记录图像,并通过时间戳自动链接到热数据。
日立的TMA(热机械分析仪)用于评价样品在宽温度范围内的膨胀或收缩。此类参数对设计工程师而言至关重要,我们的TMA分析仪也用于质量保证或出厂检验,以确保客户产品精确地符合规格。日立的多功能TMA还可在一台仪器中执行其他分析任务,如蠕变测量、应力松弛测量、热收缩 - 应力测量、应力 - 应变曲线以及动态热机械分析仪测量。
日立的STA(同步热重分析仪)能在一台装置中同时进行DSC和TGA(热重分析仪)的测量。STA用于通过TGA数据评价热阻、分解温度和组件定量分析,也用于DSC试验、用DSC数据进行比热容试验。我们的Real View试样实时观察系统能够为分析提供独特见解。