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滨松光子学商贸(中国)有限公司
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仪企号
滨松光子学商贸(中国)有限公司
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光学NanoGauge C10323-02价格:面议
- 品牌:日本滨松
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光学NanoGauge C10323-02E价格:面议
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微米膜厚测量仪 C11011-21价格:面议
- 品牌:日本滨松
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微米膜厚测量仪 C11011-21W价格:面议
- 品牌:日本滨松
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PhotoIonizer控制器 C11952价格:面议
- 品牌:日本滨松
- 型号:C11952
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单式直流PhotoIonizer L9873价格:面议
- 品牌:日本滨松
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高输出PhotoIonizer L11754价格:面议
- 品牌:日本滨松
- 型号:L11754
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光照式Photoionizer L12645价格:面议
- 品牌:日本滨松
- 型号:L12645
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紫外真空电离器 L12542价格:面议
- 品牌:日本滨松
- 型号:L12542
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光纤光谱仪PMA-20 C10494-01价格:面议
- 品牌:日本滨松
- 型号:C10494-01
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光纤光谱仪PMA-20 C10494-02价格:面议
- 品牌:日本滨松
- 型号:C10494-02
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PMA-12光子多通道分析仪 C10027-01价格:面议
- 品牌:日本滨松
- 型号:C10027-01
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PMA-12光子多通道分析仪 C10027-02价格:面议
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PMA-12光子多通道分析仪 C10028-01价格:面议
- 品牌:日本滨松
- 型号:C10028-01
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PMA-12光子多通道分析仪 C10028-02价格:面议
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PMA-12光子多通道分析仪 C10029-01价格:面议
- 品牌:日本滨松
- 型号:C10029-01
- 产地:亚洲 日本
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日本滨松
滨松光子学商贸(中国)有限公司是日本滨松光子学株式会社在中国的全资子公司,中国的销售、技术支持、售后服务等市场活动中心。 成立于1953年的日本滨松光子学株式会社(简称滨松公司),是具有高科技水平、高市场占有率的光科学、光产业公司。滨松公司的光电产品被广泛的应用在分析仪器、医疗设备、核技术应用、科学研究、安全检查、民用消费电子等领域,其中滨松的光电倍增管、光电半导体产品曾三次助澜诺贝尔物理学奖的诞生,为中微子、希格斯波色子的探测做出重要贡献。 滨松公司于1988年与北京核仪器厂共同投资兴建了北京滨松光子技术有限公司(简称北京滨松),现为国内著名的光产业基地。为了进一步贡献于中国光产业,并应对中国国内需求的不断扩大,于2011年10月在北京成立全资子公司“滨松光子学商贸(中国)有限公司”(简称滨松中国),次年滨松中国上海分公司成立,2017年滨松中国深圳分公司成立。
The C10029-01 is high time resolution model. (gate speed: 10 ...
PMA-12是紧凑型光谱测量设备,内含光谱仪和光学探测器组合。 该设备使用高灵敏度光纤,由于其高的灵敏度,只需在正常应用中...
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PMA-12是紧凑型光谱测量设备,内含光谱仪和光学探测器组合。 该设备使用高灵敏度光纤,由于其高的灵敏度,只需在正常应用中...
PMA-12是紧凑型光谱测量设备,内含光谱仪和光学探测器组合。 该设备使用高灵敏度光纤,由于其高的灵敏度,只需在正常应用中...
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PMA-20光学多通道分析仪C10494-02能在100 μs的时间分辨率下以高灵敏度测量发光、吸收和反射过程中的光谱变化...
PMA-20光学多通道分析仪C10494-01能在100 μs的时间分辨率下以高灵敏度测量发光、吸收和反射过程中的光谱变化...
L12542是一款新研发的利用VUV光源的静电消除器。L12542具有超宽的照射角度,是目前VUV光源的3倍,所以可有效去...
Photoionizer使用“光离子化”法的全新静电去除器。相比于一般使用的电晕放电方法的产品,Photoionizer具...
L11754型PhotoIonizer采用比以往型号更高的输出来去除静电。包括免维护、不产生尘埃、无“Overshoot”...
L9873型PhotoIonizer易于安装和使用,因为它工作用直流24V单式电源以适用于大多数生产线。
控制器C11952可以并行控制4个Photoionizer头。它将为偏好同步化的客户提供便利。
C11011-21W型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mappi...
C11011-21型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品在线测量。此外,选配的作图系统可以...
C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高...
C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高...