THz-TDS太赫兹时域光谱仪背景知识
基于超快激光的THz脉冲产生与探测技术发展起来的太赫兹时域光谱仪(Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS)技术,是本世纪80年代由AT&T贝尔实验室(AT&T Bell Laboratories)和IBM公司的T.J.Waston研究中心(IBM Thomas J. Watson Research Center)提出的。BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS技术属于电磁辐射位相相干探测技术,是通过对THz脉冲不同时刻的电场强度进行位相相关的取样测量,获得THz脉冲电场的时域波形。再对THz时域波形进行傅立叶变换,获得THz脉冲电场频谱和位相信息。因此,太赫兹时域光谱仪THz-TDS可以同时直接探测被研究对象扰动的THz波电场振幅和相位双重信息。
Batop公司简介
BATOP成立于2003年,是一家曾隶属于德国耶拿大学的私人创新型公司。公司配备了来自于实验室领域的专业化技术开发和生产设计团队,使得其公司产品具有很高的品质和具有竞争力的价格。在过去几年里,BATOP一直致力于太赫兹光电导天线PCA和 太赫兹时域光谱仪系统THz-TDS的研发。BATOP不仅提供单带隙光电导天线,还包括整合了微透镜的高能大狭缝交叉光电导天线阵列。BATOP自主研发的太赫兹时域光谱仪THz-TDS性能稳定,各项参数优良,功能多样:可实现快速扫描、配合外置的光纤耦合天线实现角度扫描、成像等功能。 BATOP借助强大的研发能力来不断提高自己的产品。
太赫兹时域光谱仪TDS10XX产品特点:
——内置样品仓,可充氮气进行透反射测量
——规格多样的外置光纤耦合光电导天线可选
——外置角度扫描装置可选
——外置成像模块可选
——T3DS软件支持
TDS10XX太赫兹时域光谱仪各型号参数规格:
THz-TDS1008 | THz-TDS1010 | THz-TDS1015 | |
频谱范围 | 0.05-4THz | 0.05-2.5THz | 0.05-1.2THz |
动态范围 | 75dB | 60dB | 50dB |
扫描范围/分辨率 | 500ps / 2GHz | 500ps / 2GHz | 500ps / 2GHz |
THz光斑尺寸 | 22mm(准直)/1-3mm(聚焦) | 22mm(准直)/1-3mm(聚焦) | 22mm(准直)/1-3mm(聚焦) |
仪器尺寸(cm3) | 90×60×30 | 60×60×30 | 60×60×30 |
太赫兹时域光谱仪TDS10XX可选配件:
快速扫描模块 FSU 光纤耦合天线对 2FCA
成像模块 IU (电机行程可选15cm、30cm 、45cm) 角度扫描模块 T2T
透射样品架 SHT(放在样品仓内,用于透射谱测试) 反射样品架 SHR(放在样品仓内,用于反射谱测试)
光纤耦合天线样品架 SHF(可测试透射反射谱) 衰减全反射样品架 SHA(用于衰减全反射ATR测试)
2欧元成像:
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