双束聚焦扫描电镜FIB-SEM

TESCAN SOLARIS X 是半导体和材料表征中Z具挑战性的物理失效分析应用的平台，具有极高的精度和极高的效率。

TESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统，适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务。

TESCAN AMBER X 是完美结合了分析型等离子FIB和超高分辨（UHR）扫描电镜的综合分析平台，能够同时提供高效率、大面积样品刻蚀，多模态的样品表征。

TESCAN AMBER 是一款双束（FIB-SEM）聚焦扫描电镜系统系统，可以满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。