-
- 品牌: KLA
- 型号:Zeta-388
- 产地:浦东新区
Zeta-388支持3D量测和成像功能,并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统,可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦...
-
- 品牌: KLA
- 型号:Zeta-300
- 产地:浦东新区
Zeta-300支持3D量测和成像的功能,并提供整合隔离工作台和灵活的配置,可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Ze...
-
- 品牌: KLA
- 型号:Zeta-20
- 产地:浦东新区
Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。 Zeta-20具备M...
-
- 品牌: KLA
- 型号:HRP®-260
- 产地:浦东新区
HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至300微米的台阶高度测量功能。 P-260配置支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D及3D测量,其扫...
-
- 品牌: KLA
- 型号:Tencor™ P-170
- 产地:浦东新区
Tencor P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其...
-
- 品牌: KLA
- 型号:Tencor™ P-17
- 产地:浦东新区
Tencor P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。
-
- 品牌: KLA
- 型号:Tencor™ P-7
- 产地:浦东新区
Tencor P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
-
- 品牌: KLA
- 型号:Alpha-Step® D-600
- 产地:浦东新区
Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动2...
-
- 品牌: KLA
- 型号:Alpha-Step® D-500
- 产地:浦东新区
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台...
-
光学轮廓仪 Profilm3D价格:面议
- 品牌: KLA
- 型号:Profilm3D
- 产地:浦东新区
Filmetrics® Profilm3D®和Filmetrics Profilm3D-200光学轮廓仪采用白光干涉测量(WLI)技术,是经济实用的非接触式3D表面形貌测量系统。Profilm3D系列...
- 产品分类
- 品牌分类
-
仪企号科磊半导体设备技术(上海)有限公司
-
友情链接