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锂电池隔膜涂层测厚仪
品牌:日本仓纺
型号:RX410
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F32 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F32
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仓纺 RX4000台式/在线红外测厚仪
品牌:日本仓纺
型号:RX4000
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Kurabo在线红外涂层测厚仪
品牌:日本仓纺
型号: Kurabo RX-250
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progage测厚仪 Thwing-Albert
品牌:美国Thwing-Albert
型号:-
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Filmetrics - 薄膜后度量测仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20 系列
- 产地:美国
产品简介厚度测量产品 F20 系列 - 台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™ 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)可测模层 : 平整,半透明,吸光薄膜。如: SiO2, SiNX,
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F32 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F32
- 产地:美国
F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘,加上附加的分光计,可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本两个位置)。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。Filmetrics还提供可选的透镜组件,以便于集成到现有的生产装置上。
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Filmetrics - 薄膜后度量测仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20 系列
- 产地:美国
产品简介厚度测量产品 F20 系列 - 台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™ 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)可测模层 : 平整,半透明,吸光薄膜。如: SiO2, SiNX,
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Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F10-AR
- 产地:美国
Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测Filmetrics F10-AR 使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在,不论生产线操作人员还是研发技术人员都能在几秒钟内检测和记录涂层情况。多重光谱比较目标光谱与多重反射光谱比较自动评估反射率,最小/最大位置,并得出明确的读数结论。量化残余颜色残余颜色可以用视觉方法显示出来,也可以用常见的颜色空间系统, CIELAB 和 CIEXYZ。用升级的硬涂层软件测量厚度可升级的 Filmetrics FFT 演算法已经在全世
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Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F3-XXT
- 产地:美国
Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪测量厚度最大到 3 毫米的先进薄膜厚度测量系统对于大多数的膜厚测试系统来说,当厚度大于 100 微米后都变得非常困难。那是因为他们是通过反射率振幅干涉的光谱频率来算薄膜的厚度, 会导致干涉频率超过光谱的分辨率。为了克服这个问题, F3-XXT 配备 Filmetrics 自主研发的光谱仪, 材料达到 3 毫米厚度,它可以很好测量。引用特殊的光学配件,使光斑尺寸不到 25 微米,使得即使是较高粗糙度和不均匀性的 材 料 都 可 以 测 量 。几乎所有的半导体和介质材
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薄膜分析仪 Filmetrics F10-RT
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F10-RT
- 产地:美国
Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪同步测量薄膜的反射率/穿透率不需要费时改变硬件配置, F10-RT-UV 仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱,不到一秒钟的时间,阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外, Filmetrics ZG的Autobaseline 设计可以减少十倍以上的基准校准的参数读取时间。分析优点F10-RT 使 Filmetrics 的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的点击鼠标就能够产生在客户是定波长范围内,得出最大与最小的反射率与穿透率。系统内置边
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Filmetrics 膜厚测量仪 F37
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F37 膜厚测量仪
- 产地:美国
Filmetrics F37 薄膜厚度测量仪Filmetrics膜厚测量仪优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易!附带的软件和 USB 连接界面使 F37 易于安装到任何 Windows 平台的 PC,功能强大的软件预配了超过百种材料的光学参数,这有助于多种不同膜层结构的测量,不论是单层、多层堆叠,甚至是单一纯物质,用户能轻易地从
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Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F40-UV/F40-UVX/F40/F40-EXR/F40-NIRF40-XT
- 产地:美国
Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
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Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F50-UV/F50-UVX/F50/F50-EXR/F50-NIRF50-XT
- 产地:美国
Filmetrics F50 光学膜厚测量仪膜厚测量仪 膜厚测试仪选择 Filmetrics 的优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为你演示薄膜测量是多么容易!自动化薄膜厚度绘图系统依靠 F50 先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测
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Filmetrics 薄膜测厚仪 F54
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54薄膜测厚仪
- 产地:美国
Filmetrics F54 光学膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪优势桌面型膜厚测量仪的全球24 小时电话、 Email、在线技术支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易自动化薄膜厚度分布图案系统依靠 F54 先进的光
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Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F3-sX
- 产地:美国
Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪
- 在线测厚仪
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