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TH110A 里氏硬度计
品牌:上海沪粤明
型号:TH110A
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CH-1-BT台式乳胶测厚仪
品牌:上海六菱
型号:CH-1-BT
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CH-10-SX台式1/100数显海绵测厚仪
品牌:上海六菱
型号:CH-10-SX
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普创科技塑料薄膜薄片厚度测试仪PTT-03A
品牌:山东普创
型号:PTT-03A
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镀层厚度分析仪
品牌:上海莱顿
型号:-
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Filmetrics F10-HC 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F10-HC Thin-Film Analyzer
- 产地:美国
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪有价格优势的先进薄膜测量系统以 F20 平台为基础所发展的 F10-HC 薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度,加上 F10-HC软件特有的先模拟演 算法的ZG设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层 等)。前所未的简易操作界面现在,具有新样板模式功能的 F10-HC 将更容易使用,这个功能允许使用者汇入样品的影像(请参考下页),并直接在影像上定义测量位置。系统会自动通知使用者本次测量结果是否有效,并将测量的结果显示在
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Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F40/F40-UV/F40-ERX/F40-NIR/F40-UVX
- 产地:美国
Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
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Filmetrics F3 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F3/F3-UV/F3-NIR/F3-XT/F3-XXT
- 产地:美国
Filmetrics F3 薄膜厚度测量仪经济适用的反射率测试系统F3系统是专门为采集反射率光谱曲线设计的,并且可选配至厚度和指数测试功能,基本通用型拥有40000个小时适用寿命的光源及自动波长校准,大大提高了测试准确度。快速厚度测试升级厚度测试软件许可后,厚度值将在测试数据结果中直观的显示。软件中存入了常用的介质材料及半导体层的光学常数。指数测试功能(n 和 k)对于更高级用户来说, 指数测试软件升级能在短时间内提供折射率和消光系数。Filmetrics的优势桌面型薄膜厚度测量的全球24小时电话,Ema
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Filmetrics F3-CS 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F3-CS/F3-CS-UV/F3-CS-NIR/F3-CS-XT
- 产地:美国
Filmetrics F3-CS 薄膜厚度测量仪Filmetrics设计F3-CS,主要针对于微小视野及微小样品测量设计。从产线的操作人员到技术人员都可以在短时间内测试比如聚对二甲苯和真空镀膜类膜层。我们的ZG自动基准校正功能缩短了测量前期搭建和机械化校准。在免提模式下,仅仅需要设定薄膜上下层信息就可以测量。系统可以测试数以百计的类型的膜层,不论是透明或不透明的基地材料。快速厚度测量选配FILMeasure厚度测试软件升级,当设定好样品信息后就可以很容易的测试膜层厚度。包括通常的介质材料和半导体层(包括C
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Filmetrics F20 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20-UV/F20-UVX/F20/F20-EXR/F20-NIR
- 产地:美国
Filmetrics F20 光学膜厚测量仪选择 Filmetrics 的优势桌面型薄膜厚度测量的全球24 小时电话, Email,在线支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易性价比的先进薄膜厚度测量系统使用 F20 高级频谱反射测量系统,我们能轻松的实现对膜层厚度和光学常数(n 和 k 值)的测量。
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Filmetrics 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F60-UV F60-UVX F60F60-EXR F60-NIR F60-XT
- 产地:美国
美国Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪自动化薄膜厚度分布图案系统F60-c 光学膜厚测量仪先进的薄膜光谱反射系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度及 n&k, 采用 r-θ 极坐标移动平台,可以在几秒钟的时间内快速的定位所需测试的点并测试厚度, 可随意选择一种或极坐标形、 或方形、或线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。 针对不同的晶圆尺寸,盒对盒系统可以很容易的自动转换,匹配当前盒子的尺寸。 49点的分布图测量只需耗时约 45秒。可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的
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Filmetrics F64-C 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F64-c膜厚测量仪
- 产地:美国
膜厚测量测试仪 光学膜厚测量仪Filmetrics F64-C晶片生产中自动化测量薄膜厚度分布图案系统依靠 F64 先进的光谱反射系统,可以很简单快速地获得产品薄膜厚度及 n 和 k 值的分布图。利用图形识别软件控制高精度移动平台,自动寻找测试点,并以每个点约 1.5 秒快速生成厚度。机动化的转台能够最多配置四个物镜,方便选择多个不同尺寸的光斑。 针对不同的晶圆尺寸,盒对盒系统可以很容易的自动转换,匹配当前盒子的尺寸。可测样品膜层基本上所有光滑的、透明半透明的或低吸收系数的膜层都可以测量。可测样品包括:氧
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桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F70
- 产地:美国
桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70测量厚度上限可达 15 毫米可透光材料对可透光材料来说,色差共焦测量( CTM)是一种非接触式的测量方式,最多可同时测量两层。这种测量方式,较不受待测样品表面粗糙度、均匀性、或曲率的影响。CTM 厚度测量基本上是藉由探测膜层上下界面的距离进而获得厚度值。透过专业透镜聚焦不同波长的光,而聚焦在待测样品上下界面的光反射回探测器后,就会在光谱图中看到二处信号波峰,进而推算出波峰之间的距离,即为待测薄膜的厚度值(本法利用不同波段,光颜色差异来探测膜层厚度,故取名色差共
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Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F80-C
- 产地:美国
Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪F80-C膜厚测量仪使生产晶片的测量变得简单实惠工艺工程师希望薄膜厚度测量是快速容易的,现在高精度的厚度成像技术让 Filmetrics 可以快速建立配方,并且拥有行业领xian的测试速度,而且价格仅仅是同行业测量设备的小部分。 F80 可以应用在化学机械抛光、化学气相沉积、蚀刻等工艺中,这是晶片追索工艺工程师所期待的。新技术= 低成本与传统的测量工具不同, F80 不需要高精度的移动硬件去找寻微小的测试 pads,相反的,它可以快速的测量每个 pad 附近数以千
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