薄膜测厚仪薄膜测厚仪又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪根据其测量方式的不同,可分为:接触式薄膜测厚仪,非接触式薄膜测厚仪。非接触式薄膜测厚仪的出现,大大提高了纸张等片材厚度测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。
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美国布鲁克台阶仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: DektakXT
- 产地:美国
纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量,应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、YL、科学研究和材料科学领域
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海思创TI 980 TriboIndenter纳米压痕仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: TI 980 TriboIndenter
- 产地:德国
Bruker’s Hysitron TI 980 TriboIndenter 海思创TI 980 TriboIndenter纳米压痕仪是布鲁克先进的纳米力学测试设备,同时具有高的性能、灵活性、可信度、实用性和速度。TI 980纳米压痕仪是布鲁克海思创纳米压痕设备的产品。
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Hysitron TS 77 Select 纳米压痕仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Hysitron TS 77 Select
- 产地:德国
TS 77 Selec产自动台式纳米力学和纳米摩擦测试系统提供了同级别仪器中高的测试性能,功能性和易用性。基千布鲁克zhu 名的Triboscop铲电容式传感器技术,这套新的测试系统支持从纳米到微米尺度的可靠的力学和摩擦学表征。
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Bruker布鲁克 DektakXT 探针式表面轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Dektak XT
- 产地:美国
布鲁克探针式表面轮廓仪(又称“台阶仪”)历今四十载,积累大量技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量,到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试,Dektak台阶仪适用面广,为用户提供准确性高,重复性佳的测量结果。 在教育、科研领域和半导体制程控制,Dektak广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。近几年,Dektak系统已经成为发展的太阳能电池市场zui的测试工具。
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