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美国布鲁克非接触式三光学轮廓仪(白光干涉仪)
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT-X3
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皮米精度位移激光干涉仪
品牌:上海昊量
型号:quDIS
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Jordan Valley多功能X射线衍射/反射仪Delta-X
品牌:德国布鲁克
型号:Delta-X
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天津拓普 WGS-5干涉衍射测量实验(附MATLAB 源码)
品牌:天津拓普
型号:WGS-5
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天津拓普 WSY-3夫琅禾费衍射实验装置(附 MATLAB 源码)
品牌:天津拓普
型号:WSY-3
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纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
- 品牌:日立
- 型号: VS1800
- 产地:日本
纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800应用光干涉现象,对微细的表面形貌进行测量,可实现高性能薄膜、半导体、汽车零配件、显示器等行业所要求的高精度测量。而且还能以无损伤方式进行多层膜的层结构以及层内部的异物测量。主要特点: 采用光干涉方式,非接触测量 3D测量支持线粗糙度和面粗糙度测量 自动粗糙度参数选择(ISO25178) 毫米大面积测量 高精度测量(垂直方向分辨率0.01nm) 快速、高重复性测量 多层薄膜和薄膜内
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纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
- 品牌:日立
- 型号: VS1800
- 产地:日本
纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800应用光干涉现象,对微细的表面形貌进行测量,可实现高性能薄膜、半导体、汽车零配件、显示器等行业所要求的高精度测量。而且还能以无损伤方式进行多层膜的层结构以及层内部的异物测量。主要特点: 采用光干涉方式,非接触测量 3D测量支持线粗糙度和面粗糙度测量 自动粗糙度参数选择(ISO25178) 毫米大面积测量 高精度测量(垂直方向分辨率0.01nm) 快速、高重复性测量 多层薄膜和薄膜内
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韩国Nanobase Xper WLI 白光干涉仪
- 品牌:韩国Nanobase
- 型号: Xper WLI
- 产地:韩国
产品介绍: Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。优势:价格优势:市场上极具性价比的白光干涉仪。简单易用:只需将样品放置于样品台上,即可直接进行测量;可以测量非接触式非平坦
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韩国耐神NEXENSOR 3D干涉扫描显微镜
- 品牌:韩国NEXENSOR
- 型号: XI-M12
- 产地:韩国
Nexensor应半导体和FPD行业新检测工艺的需求,研发和制造超高速大范围干涉显微镜系统。我们的3D干涉显微镜可以测量单层膜形状和产品的 细微3D表面形貌如u-bumps 或 fine patterns。 XI-M12参数表 视野范围 12mm×12mm 可定制大范围和显微镜结构 重复精度 <0.1μm 对于标准样品 垂直扫描速度 <0.5秒 对于100μm高度 检测物体 测量单层膜厚度和形貌,测量3D表面形貌如弯曲、高度等。
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