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分类:应用文章
发布于:2020-04-26
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本产品的便携性使其可以在任何地方进行简单而高精度的测试和评估。其与EX-400&EX-86U准分子灯具备同样的工作表现,并专为R&D在线操作设计而成。因...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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带有内部电源的“一体机”式设计实现了紧凑、质量轻的结构,从而不需要选择特定空间,免去了安装上的麻烦,可以轻松地在生产现场进行设置。在线使用中的高通用性使...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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使用扁平长灯和RF(射频)放电可在大面积上均匀照射并减少闪烁,从而提供稳定的输出。 与电晕放电法,等离子体法,甚至其他准分子灯相比,EX-400可确保高...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C12570系列是孔洞检测装置,用于检测层压薄膜和金属箔中的孔洞。 由于采用非接触式光学检测,被检测的样品不会暴露在液体或特殊环境的压力中(例如电场、磁...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C11740是一种孔洞检测装置,专门用于检测罐中的孔洞,内部包含一个高灵敏度光学传感器(光电倍增管),可以高速,高精度地检测微小的孔洞。可测量参数包括一...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C11011-01型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mapping工作台联用可以测量指定样...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与Mapping工作台联用可以测量指定...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学,用以测量半导体制造过程中的薄膜厚度,以及安装在半导体制造设备上的APC和薄膜的质量控制。C1129...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C13027型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。C13207不仅支持PLC连接,而且其设计尺寸比其他型号更紧凑,便...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C12562型光学纳米膜厚测量系统是一款小型紧凑、节省空间、安装方便的非接触式薄膜厚测量系统。在半导体工业中,硅通孔技术的普及使得硅厚度测量变得必不可少...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。滨松的产品...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。C1302...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。我们的产品...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C11011-21型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品在线测量。此外,选配的作图系统可以用于测量指定样品的厚度分布。C...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C11011-21W型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mapping工作台联用可以用于测量指定...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C7336-07包括一个高分辨率,高对比度的4-inchX射线图像增强器(X射线I.I.)和一个3 mega-pixel的CMOS图像传感器。 X-ra...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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C7336-06包括一个高分辨率,高对比度的4-inchX射线图像增强器(X射线I.I.)和一个2.35 mega-pixel的CMOS图像传感器。 X...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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X射线I.I.内置高压电源,具有4英寸/ 2英寸的可变视场,具有高分辨率和高对比度。 通过工业产品的X射线透视模拟,它可以用于产品的线上和线下检测。 ...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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该高分辨率X射线成像系统是为X射线光束对准应用而设计的。它采用了独特的机械结构,可结合各种相机实现实时X射线光束对准。 铍输入窗实现了宽范围的X射线能量...
分类:产品样册
发布于:2020-03-10
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在采购可程式恒温恒湿试验箱时,有几个关键事项需要注意。首先,明确需求是至关重要的,包括确定所需的温度范围、湿度范围、精度和控制方式等参数,以确保试验箱能够满足测试要求。其次,品牌的选择也影响着产品的质...
分类:应用文章
发布于:2024-03-19
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TSD-36F-2P高低温一体机冷热冲击试验机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁、光...
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一、产品概述
步入式恒温恒湿试验室,是一款专为各类产品提供恒温恒湿测试环境的设备。其设计理念结合了现代科技与传统工艺,致力于为用户提供精准、稳定的测试环境,以确保产品在各种气候条件下的性能表现。...
分类:产品样册
发布于:2024-03-15
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设备介绍及放置要求。
设置参数,放置样品,关门密封。
监控运行状态,注意样品情况。
试验结束,关闭电源,取出样品。
注意安全,定期维护。
附技术参数、问题解决和联系方式。
分类:操作手册
发布于:2024-03-15
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材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后要素评估,可为用户检验、检测电子电工元器件、零配件或相关行业的实验部门提供一个模拟环境,为测试数据的准确性和一致性(可重复)提供必备条件。
分类:产品样册
发布于:2024-03-14
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立式恒温恒湿试验箱是先进的温度测试设备,具有稳定性能、稳定质量和广泛适用性。其特点包括宽广温度范围、高效加热制冷、精确温度控制等。应用于电子、汽车、航空航天和科研等领域。提供专业技术支持、完善售后服务...
分类:产品样册
发布于:2024-03-14
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桌上型恒温恒湿试验箱是一款高性能的环境试验设备,具有广泛温度范围、精确湿度控制、稳定高温高湿性能、快速温变速率和智能化操作等特点。设备采用高品质原材料和零部件,确保稳定性和耐用性。其主要参数包括温度范...
分类:产品样册
发布于:2024-03-14
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广皓天设备小型环境试验箱画册,规格齐全
产品特点
1. **精确控制**:采用先进的温湿度传感器和控制算法,确保箱内环境稳定,满足各种试验要求。
2. **节能环保**:采用高效节能的压...
分类:产品样册
发布于:2024-03-14
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