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布鲁克电子显微镜系列分析仪器：
领先的化学成分和组织结构分析解决方案
适配于SEM和TEM的QUANTAX EDS
布鲁克第七代能谱仪QUANTAX XFlash 7具有卓越的能量分辨率，无与伦比的输出计数率和Z优的结构设计，可提供30 至 100 mm2多种有效晶体面积供选择。
更多参数及应用案例请访问：
基于SEM 的QUANTAX EDS | Bruker
基于TEM 的QUANTAX EDS | Bruker
www.bruker.com/quantax-eds-for-sem
www.bruker.com/quantax-eds-for-tem
QUANTAX WDS平行光波谱仪
QUANTAX WDS XSense波谱仪集非磁性无畸变的平行光学设计和Z新的探测器技术于一身，紧凑的WDS系统能够在低能端进行超灵敏的高分辨率谱峰分析：
更多参数及应用案例请访问：
www.bruker.com/quantax-wds
同轴TKD实现SEMZ佳空间分辨率
纳米级金颗粒样品的原始取向图，放大区域为4~6nm的退火孪晶，图像比例尺为100nm。
更多参数及应用案例请访问：
光学 2 | Bruker
https://www.bruker.com/zh/products-and-solutions/elemental-analyzers/eds-wds-ebsd-SEM-Micro-XRF/quantax-ebsd/optimus-2.html
QUANTAX Micro-XRF
布鲁克全新第二代XTrace 2微区荧光光谱仪使用户以Z小的成本，在SEM上使用微区XRF的全部功能。
SEM的微区XRF元素面扫描分析采自南非Newlands的伯利岩中含金刚石的地幔榴辉岩样品。主要相为石榴石和单斜辉石，含少量硫化物和交代矿物。分析面积约为3 cm x 2 cm
更多参数及应用案例请访问：
www.bruker.com/quantax-micro-xrf
SEM 和 TEM 平台的原位定量纳米力学系统
使用布鲁克同轴 TKD 和 PI 89对纳米线和薄膜进行原位形变测试
纳米线和薄膜样品可以在独家的微电子“Push-to-Pull”压转拉装置上进行固定和测试。同轴TKD测试可以使用OPTIMUS 2探头完成。将TKD与PI 89相结合有助于理解样品在应变作用下的形变趋势。
更多参数及应用案例请访问：
www.bruker.com/picoindenters
长按关注
www.bruker.com
info.bna.cn@bruker.com
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