网络研讨会丨功率半导体器件失效分析：从EFA到PFA的工作流程案例分享

了解赛默飞客户如何通过快速、准确的工作流程来进行失效分析，从而提高功率半导体器件质量和可靠性的方法。

随着消费电子产品、电动汽车和其他设备制造商需求改进的电源管理解决方案，对高性能功率半导体器件的需求增长迅速。电压和频率的升高，以及将新材料集成到现有工艺都会给新产品的质量和可靠性带来挑战。

为了应对这些挑战，电源设备供应商需要能够快速提供失效定位信息的工具，以提高产品质量和可靠性。

为功率半导体器件引入

从EFA到PFA的工作流程

参加赛默飞网络研讨会，了解从电性失效分析（EFA）到物性失效分析（PFA）的新工作流程如何帮助您精确定位失效位置，并快速采取措施将产量问题降至zui低。

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在本次网络研讨会中，您将了解到：

● 专为功率半导体器件失效分析设计的从EFA到PFA的工作流程

● 赛默飞客户如何应用这一工作流程

● 纳米级失效定位如何帮助您提高准确性和加速失效分析

报名方式

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关于演讲嘉宾

Billy Tang

赛默飞世尔科技EFA销售拓展经理

Billy Tang曾是一位失效分析经理，拥有超过13年的半导体实验室工作经验。他曾在ZG担任纳米探针应用的高级应用专家，现担任销售拓展经理，负责EFA产品业务开发。Billy获得了上海大学材料和物理专业学士学位。

Neel Leslie

赛默飞世尔科技应用工程经理

Neel Leslie是一名应用工程经理，负责开发和实施新的应用和工作流程，以解决电气测试过程中的系统性产量问题。Neel自2012年以来一直在本公司工作，Z初在FEI担任开发工程师。加入赛默飞世尔科技公司之前，他曾在加州大学戴维斯分校医学ZX担任临床微生物学研究实习生。

关于SPARK

SPARK 是一个知识社区，半导体专业人员、研究人员和思想ling袖可在此就工具性能和典范做法各抒己见，获取有关半导体和微电子的深刻见解，以及了解前沿解决方案。