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在电子半导体行业,样品制备对于失效分析至关重要。司特尔提供的制样设备,如精密切割,真空浸渍镶嵌和机械磨抛,确保样品分析前的最佳处理效果。使用氩离子研磨仪可以对样品进行无应力的抛光或者切削处理,便于后续扫描电镜的高分辨和快速的分析,以深入分析材料的微观结构和性能,寻找失效原因。
本次会议特邀司特尔应用专家,通过行业前沿技术分享、实际案例分析,助力参会者提升专业技能,推动电子半导体行业的技术创新和产业升级。诚邀您参会。
会议主题
电子半导体样品制备和失效分析网络研讨会
会议时间
2025年6月18日14:00-15:30
参会方式
识别下方二维码即可报名,免费参会
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案例展示
使用司特尔 Struers 切割、镶嵌、磨抛设备对多层陶瓷电容器进行处理的结果。样品整体平整性好,瓷体边缘无明显碎裂和剥落,外部金属层无明显划痕,各层界面清晰。
使用 Technoorg Linda 离子研磨仪处理 MLCC 电极后,结合飞纳台式场发射电镜能谱分析,发现 MLCC 内电极存在被氧化现象。
期待与您共同探讨电子半导体样品制备和失效分析技术,相信这场网络研讨会将为您带来宝贵的知识与启发。感谢您一直以来的支持与关注,期待您的参与!参与网络研讨会,直播间互动,还将会有精品礼品相送哦!
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