LiteScope AFM-SEM
在微观世界的探索中,原子力显微镜(AFM)与扫描电子显微镜(SEM)一直是科学家们不可或缺的工具。然而,传统技术中两者往往独立运行,难以在同一时间、同一点位对样品进行综合分析。如今,AFM-SEM联用技术:半导体失效分析新突破
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二维材料研究?试试 AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机?
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新品发布!AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机,开启电镜原位关联技术新时代!
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