您是否对如何制备Z好的纳米材料样品感到好奇？加入我们，参加由Fischione Instruments（美国）高级应用科学家Pawel Nowakowski博士和Bruker Nano Analytics（德国）全球应用经理Laurie Palasse博士主持的这次富有见地的网络研讨会，了解可进行大面积同轴TKD分析的样品制备技术的Z新进展。
在这次网络研讨会中，您将了解后聚焦离子束（FIB）样品制备技术的优势。这种技术利用汇聚的氩离子束切割抛光系统，实现了同轴TKD分析所需要的大面积且厚度均匀的电子束透明样品要求。经过氩离子束制备过的样品，将不会受到结构损伤和非晶层的影响。
在网络研讨会中，我们将同时回顾以下内容：
同轴TKD技术在扫描电子显微镜中用于纳米材料的晶体学取向面分布表征优势
同轴 TKD如何获得2 nm空间分辨的的晶体学定量和定性数据
同轴TKD技术如何揭示材料的结构和功能特性。
诚邀以下人员参与：
所有对纳米结构材料表征感兴趣的用户。
对暗场和明场成像以及纳米尺度取向面分布感兴趣的研究人员和专家。
对高级样品制备和分析技术感兴趣的FIB/SEM显微镜技术员。
图1使用Bruker XFlash FlatQUAD平插式能谱仪检测阴极样品横截面，其中可见Si，Na，S元素富集。
会议时间
2023年11月7日，北京时间晚上10：00
报名入口
主讲人
Dr. Pawel Nowakowski
Senior Application Scientist, E.A. Fischione Instruments, Inc.
Dr. Laurie Palasse
Global Application Manager, Bruker Nano Analytics
关于
布鲁克的电子显微镜分析仪包含EDS、WDS、EBSD和SEM上的微区XRF，它们为目前可用的材料提供了Z全面的成分和结构分析。同时提供微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)以及用于微量元素分析的台式全反射X射线荧光光谱仪 (TXRF)。
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www.bruker.com
info.bna.cn@bruker.com
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