新品 | 为NEXTA DSC系列推出Real View偏光显微样品观察装置，可进行高精度结构分析
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高级显微分析 | ||
摄像头装置具有专门为偏光观测设计的专用图像处理功能。该系统采用与NEXTA DSC系列类似的简单操作，可对多层薄膜进行逐层熔点分析。
这些功能有助于对各种材料进行高精度结构分析，能够清晰地观测微小区域，包括多层薄膜质量的异常。
日立分析仪器热分析仪产品经理Olivier Savard表示：“NEXTA DSC系列的Real View?偏光显微样品观察装置引入了高精度结构分析的创新方法，为需要增强材料特征的公司和研究实验室扩展了差示扫描量热仪的功能。”
日立高新科学热分析仪产品经理西村晋哉表示:“偏光显微样品观察装置采用由日立创新开发的图像处理功能对微区域进行热分析。该产品为研发和质量保证/质量控制市场提供了创新应用和解决方案。"
*“NEXTA”和“Real View”是日立分析仪器在日本、美国、欧盟及其他国家/地区的注册商标。
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