韩国Nanoscope Systems 激光三维表面轮廓仪 NS3600
电解液Z09181=A=3600
GRATING COVER 3600 P
NS-PE-STOPPER, NS 29
NS Adapter, PP, GL 32, for bottles NS 19/26
Nanoscope Systems NS3600激光三维表面轮廓仪
NS-3600是一款高速三维激光表面轮廓仪,可用于精确可靠的3维(3D)测量。 通过快速光学扫描模块和信号处理算法可实现实时共聚焦显微图像。
这是测量和检查微观3D结构有前途的解决方案,例如半导体晶圆,FPD产品,MEMS器件,玻璃基板和材料表面。

Features & Benefits(性能及优势):
高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿
实时共焦成像 简单的数据分析模式
多种光学变焦 双Z扫描
大范围拼接 半透明基材的特征检测
实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备
自动聚焦
Software (软件):

Application field(应用领域):
NS-3600是测量低维材料的有前途的解决方案。
可测量微米和亚微米结构的高度,宽度,角度,面积和体积,例如
-半导体:IC图形,凹凸高度,线圈高度,缺陷检测,CMP工艺
- FPD产品:触摸屏屏幕检测,ITO图案,LCD柱间距高度
- MEMS器件:结构三维轮廓,表面粗糙度,MEMS图形
-玻璃表面:薄膜太阳能电池,太阳能电池纹理,激光图案
-材料研究:模具表面检测,粗糙度,裂纹分析

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晶圆几何形貌测量及参数自动检测机使用高精度高速光谱共焦双探头对射传感器实现晶圆的非接触式测量,结合高精度运动模组及晶圆机械手可实现晶圆形貌的亚微米级精度的测量,该系统适用于晶圆多种材质的晶圆,包括蓝宝石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;
晶圆几何形貌及参数自动检测机PLS- F1000/ F1002 是一款专门测量晶圆厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等参数的自动晶圆形貌检测及分选机。
晶圆几何形貌及参数红外干涉自动检测机使用高精度高速红外干涉点传感器实现晶圆的非接触式测量,结合高精度运动模组及晶圆机械手可实现晶圆形貌的亚微米级精度的测量,该系统适用于晶圆多种材质的晶圆,包括蓝宝石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;可以实现的尺寸与结构测量内容包括: 包括 TTV, Bow, Warp, Thickness , TIR, Sag, LTV(Fullmap 测试)。
专为测量旋转对称样品的表面形貌和透明薄膜的厚度而设计,如金刚石车削光学表面和模塑或抛光的非球面透镜
灵活性和效率 • 测量系统在实验室以及生产环境中均可使用 • 几乎可对任何材料进行测量 • 测量软件直观的用户引导确保了测量过程简单快速 • 无需进行耗时的样品制备(例如,定向、防反射涂层或喷溅涂覆法等) • 短短几秒便可完成表面扫描和 2D 轮廓 • 通过双向扫描之类的功能可进一步加快原本就很高的测量速度