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德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
- 品牌：德国菲希尔
- 型号： X-RAY XDL 230 X
- 产地：
- 供应商报价： 面议
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北京华仪通泰环保科技有限公司
更新时间：2024-04-11 16:06:46 -
企业性质一般经销商
入驻年限第4年
营业执照已审核
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联系方式：王经理400-901-1718
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- 仪器详情仪器参数
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL230 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用：
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄镀层，例如：装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
测量印刷线路板
分析电镀溶液
我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑，如技术参数中英文有差异，以英文参数为准。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪技术参数：
通用规格
设计用途
能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXPF），
用于测定超薄镀层和溶液分析。
元素范围
从元素氯（17）到铀（92）
配有可选的WinFTM®BASIC软件时，多时可同时测定24种元素
设计理念
台式仪器，测量门向上开启
测量方向
由上往下
X射线源
X射线管
带铍窗口的钨管
高压
三档：30KV，40KV，50KV
孔径（准直器）
φ0.3mm 可选：φ0.1mm；φ0.2mm；长方形0.3mm x 0.05mm
测量点尺寸
取决于测量距离及使用的准直器大小
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
较小的测量点大小约φ0.2mm
X射线探测
X射线接收器
比例接收器
测量距离
0~80mm，使用专有保护的DCM测量距离补偿法
样品定位
视频系统
高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置
手动聚焦，对被测位置进行监控
十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）
可调节亮度的LED照明，激光光点用于准确定位样品
放大倍数
40x~160x
电器参数
电源要求
200V，50Hz
功率
很大120W（不包括计算机）
保护等级
IP40
尺寸规格
外部尺寸
宽x深x高（mm）：570x760x650
内部测量室尺寸
宽x深x高（mm）：460x495x（参考“样品较大高度”部分的说明）
重量
107KG
环境要求
使用时温度
10℃~40℃
存储或运输时温度
0℃~50℃
空气相对湿度
≤95% 无结露
工作台
设计
手动X/Y平台
X/Y平台较大移动范围
92x150mm
可用样品放置区域
420x450mm
Z轴
马达驱动
Z轴移动范围
140mm
样品很大重量
20KG
样品很大高度
140mm
激光（1级）定位点
有
计算单元
计算机
带扩展卡的Windows®计算机系统
软件
标准：WinFTM®V.6 LIGHT
可选：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER
执行标准
CE合格标准
EN 61010
型式许可
作为受完全保护的仪器
型式许可完全符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定
