半导体元器件iv曲线测试仪

半导体元器件iv曲线测试仪优势
◾       性能强大-作为电压源和或电流源，并同步测量电流和或电压，支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小，预防器件损坏。覆盖0-3A的电流范围0-300V的电压范围，全量程测量精度0.03%。

◾       灵活多样-支持两线制和四线制测量，更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫描等模式;专业l-V特性及半导体参数测试软件。

◾       易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI),提供图形化和数字化两种测量结果显示模式，便于使用和查看。

多合一高精密SMU，简化测量

    传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，还需占用大量测试台空间。

S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短测试系统的开发、建立和维护的时间，同时节省测试架或测试台的宝贵“空间”，降低购买测试系统的整体成本。

四象限工作，可以作为源或负载

电源象限是指以电源输出电压为X轴、输出电流为Y轴形成的象限图。D一、三象限即电压电流同向，源表对其它设备供电，称为源模式；第二、四象限即电压电流反向，其它设备对源表放电，源表被动吸收流入的电流，且可为电流提供返回路径，称为阱模式。      

与传统矩阵电源不同，S系列源表在同等功率下，客户可根据实际需求，选择大电压小电流或小电压大电流输出。选择的量程不同，S系列源表的源/阱极限也有区别。

源限度-电压源:

士10V(≤3A量程)，土30V (≤1A量程),士300V     (≤100mA量程)

源限度-电流源:

土3(≤10V量程)，土1A(≤30V量程)，士100mA   (≤300V量程)

轻松满足常用的测量需求

  触摸屏幕上的任意图标，就会出现图像化设置屏幕。在测量前按照向导逐一设置，操作更直观。

提供的应用程序

- 序列扫描

- 自定义序列

-  数据记录仪：持续输出恒压源测试模式；持续输出恒流源测试模式

- APD管

- 晶体管：MOSFET管测试；三极管测试

- LIV：PIN管扫描测试

- Gummer：双台源表使用同样参数进行扫描

半导体元器件iv曲线测试仪应用领域：

分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；