陶瓷介电常数测量仪

陶瓷介电常数测量仪工作频率范围是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz(选配）, 三种选项它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。

陶瓷介电常数测量仪核心性能‌：采用双CPU架构和数字信号处理技术，典型测量精度达0.05%，支持20Hz-2MHz宽频测量，可量化电感、电容、电阻等参数，并具备ESR测量和品质因数Q值分析功能‌

应用场景‌：适用于电路板故障检测，能通过寄生参数异常分析定位元件漂移问题‌。

技术优势‌：基于自动平衡电桥原理，基本精度0.05%，测试速度快5.6ms/次，支持20V交流信号和±40V直流偏置，阻抗测试范围达1GΩ‌高频介质损耗测量补充

对于更高频或特殊介质材料（如陶瓷、液体），可结合Q表与专用夹具

应用场景适配‌

‌研发/实验室‌：选择带图形化分析功能的；

‌生产质检‌：需分选功能和HANDLER接口；

‌现场检测‌：便携式系列更灵活。关键注意事项

‌校准与误差控制‌：标准电阻校准可提升精度，尤其对毫欧级阻抗测试‌；

‌阻抗范围匹配‌：高频陶瓷电容需恒定电平测试，大电感需带直流偏置电流源；

‌预算平衡‌:北广精仪GDAT系列性价比优于进口品牌，但条件下（如太欧阻抗）需更型号‌

验证测试需求‌：电解电容仅需100Hz/120Hz，而薄膜电容需100kHz双频测试；

‌接口兼容性‌：优先选支持USB以适配现有系统‌

ε和D性能：

固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。

ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进

测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度 ;0.1%

显示范围 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

显示范围 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

测量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准

等效方式 :串联方式, 并联方式

量程方式:自动, 保持

显示方式 :直读, Δ, Δ%

触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能:10档分选及计数功能

显示器;320×240点阵图形LCD显示

存储器 :可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）

工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，

精度：±0.02%

电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显

电容测量基本误差：±0.05%

损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显

介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样精确测量。

它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

微分头分辨率：10μm

高耐压：±42Vp（AC+DC）

电缆长度设置：1m 精密LCR阻抗分析仪的维护保养指南一、日常维护要点

‌环境控制‌

仪器应置于干燥、通风环境中，避免潮湿、灰尘及腐蚀性气体，长期不用时需用防尘罩覆盖并内置防潮硅胶‌。

避免剧烈振动或撞击，搬运时轻拿轻放，防止内部元件位移或损坏。

‌清洁与防静电‌

外壳清洁中性清洁剂和软布，禁止有机溶剂（如乙醇、丙酮）擦拭显示屏或光学部件‌。

测试夹具和探针需定期用酒精清洁，防止氧化导致接触不良‌。二、校准与性能验证

‌定期校准‌

每季度至少进行一次开路、短路及负载校准，标准件（如精密电阻、电容）验证测量精度‌。

更换夹具或环境温湿度变化后需重新校准‌。

‌功能检查‌

开机前检查电源线、接地线及接口连接状态，避免接触不良或过载‌。

通过测量已知标准件（如标称值电容）验证数据一致性，若偏差超过允许范围需返厂检修‌。三、故障预防与处理

‌常见问题应对‌

‌电源异常‌：检查插座供电或电池电量，过载保护触发时需断电静置后重启‌。

‌显示异常‌：黑屏/花屏可能为供电故障，字符乱码需重启或更新固件‌。

‌数据负值‌：检查测试频率是否过高（如电容测量建议100Hz-120Hz）或接线是否反接‌。

‌长期存放维护‌

每月通电1-2次，每次30分钟，防止电解电容老化或电路板受潮‌。

取出干电池避免漏液腐蚀电极，定期更换干燥剂‌。四、专业维护建议

复杂故障（如主板烧毁、信号源异常）需联系厂商或专业维修人员，禁止自行拆解。

保留原厂配件（如测试线、校准件）以备维修。

通过以上措施可显著延长仪器寿命并保障测量精度‌数字LCR电桥分析仪工作原理一、核心原理

数字LCR电桥通过测量被测元件（电感L、电容C、电阻R）的电压与电流矢量关系，结合欧姆定律计算阻抗参数‌12。其核心步骤如下：

‌信号激励‌：内置正弦信号源产生特定频率（如100Hz-100kHz）和幅度的交流电，施加于被测元件‌。

‌矢量检测‌：通过相敏检波技术同步测量电压与电流的幅值及相位差，转换为数字信号‌。

‌阻抗计算‌：根据公式 Z=V/IZ=V/I（复数形式）推导出阻抗模值、相位角，进而分解为串联/并联等效参数（如 LsLs、CpCp、RsRs）‌二、关键技术演进

‌从传统电桥到数字电桥‌：早期采用物理电桥平衡法，现代设备通过高速运算放大器和微处理器实现数字化测量，精度提升至0.1%以下‌。

‌四端测量法‌：采用HD（激励正极）、LD（激励负极）、HS（检测正极）、LS（检测负极）四端口结构，消除引线电阻误差‌。

‌等效模型选择‌：支持串联（如 LsLs、RsRs）和并联（如 LpLp、RpRp）模型，根据元件特性自动切换‌。三、典型应用场景

‌电感测量‌：通过 Ls−QLs−Q 模式获取感值与品质因数，测试频率通常为1kHz-100kHz‌。

‌电容测量‌：电解电容需低频（如120Hz），薄膜电容则需高频（如10kHz）‌。

‌电阻测量‌：区分直流电阻（RdRd）与交流阻抗（ZZ），适用于功率器件分析‌四、技术优势

‌高精度‌：采用标准电阻和石英振荡器校准，误差可控制在0.02%以内。

‌智能化‌：支持自动量程、偏置电压测试及多参数混合显示‌。

‌抗干扰‌：运算放大器虚地设计显著提升信噪比‌

通过上述技术，数字LCR电桥实现了对电子元件参数的快速、测量，广泛应用于半导体、电力设备及材料科学领域