介电常数测量系统

介电常数测量系统具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。

介电常数测量系统◎可直接得到介电常数和介质损耗 不用人工计算

◎可测试电阻

◎ 4.3寸TFT液晶显示

◎ 中英文可选操作界面

◎ 高5MHz的测试频率

◎ 平衡测试功能

◎ 变压器参数测试功能

◎ 高测试速度:13ms/次

◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能

◎ V、I 测试信号电平监视功能

◎ 内部自带直流偏置源

◎ 可外接大电流直流偏置源

◎ 10点列表扫描测试功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻

◎ 内建比较器，10档分选和计数功能

◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存

◎ 测量数据可直接保存到U盘

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1～105

ε和D性能：

固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。

ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进

测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度 ;0.1%

显示范围 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

显示范围 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

测量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准

等效方式 :串联方式, 并联方式

量程方式:自动, 保持

显示方式 :直读, Δ, Δ%

触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能:10档分选及计数功能

显示器;320×240点阵图形LCD显示

存储器 :可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）

工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，

精度：±0.02%

电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显

电容测量基本误差：±0.05%

损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显

介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样精确测量。

它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

微分头分辨率：10μm

高耐压：±42Vp（AC+DC）

电缆长度设置：1m

LCR阻抗分析仪的关键词可分为以下几类：一、核心功能关键词

‌阻抗分析‌：测量电阻、电感、电容的复数阻抗特性‌

‌LCR测试‌：专用于电感（L）、电容（C）、电阻（R）的元件参数测量‌

‌频率范围‌：如20Hz-130MHz、50Hz-100kHz等，不同型号覆盖不同频段

‌精度等级‌：如0.01%、0.05%等，反映测量准确度二、技术特性关键词

‌直流偏置‌：支持偏置电流源

‌扫描测试‌：支持频率扫描或参数扫描分析‌

‌夹具适配‌：弹性夹具（引线元件）、贴片夹具（SMD元件）

‌防静电设计‌：适用于敏感元件的测试环境三、应用场景关键词

‌元器件测试‌：电容、电感、电阻的批量检测

‌磁性材料分析‌：如半导体、磁性材料的阻抗特性研究‌

‌电子‌：电缆、电子元件的性能验证四、辅助功能关键词

‌上位机软件‌：支持数据统计分析

‌接口协议‌：RS-232、USB、LAN、GPIB等通信接口‌

‌校准补偿‌：高精度测试必需的步骤验证测试需求是否满足的核心方法

‌需求评审与追踪‌

通过正式评审、走查或专家审查，确认测试需求与原始需求（如SRS文档）的一致性，并需求追踪工具（如DOORS）确保每个测例对应到具体需求条目。

检查测试需求的‌正确性‌（无歧义）、‌完整性‌（覆盖所有功能/非功能需求）及‌优先级‌（关键需求优先验证）。

‌原型与测例验证‌

设计原型或模拟环境，将测试需求转化为可执行的测例，通过实际测试验证需求是否被正确实现。

例如，对软件性能需求需设计压力测例，验证响应时间等指标是否达标。

‌用户参与与测试反馈‌

请用户参与验收测试（如α/β测试），真实数据验证需求是否符合实际场景，并收集用户反馈以修正偏差。验证流程与关键步骤

‌制定验证计划‌：明确验证范围（如功能、性能）、方法（评审/测试）及通过标准。

‌执行验证活动‌：

采用自动化工具管理测例执行，记录缺陷并分析根本原因。

对复杂需求（如容错性），需设计异常场景测试（如断电恢复）。

‌问题闭环与复测‌：修复缺陷后重新验证，直至所有测试需求通过。注意事项

‌独立测试‌：由独立测试小组执行验证，避免开发人员主观偏差。

‌文档完整性‌：确保测试报告、需求追踪矩阵等文档齐全，作为验收依据。

精密LCR阻抗分析仪的校准是确保测量精度的关键步骤，需通过开路、短路及负载校准消除系统误差。以下是具体校准流程和注意事项：一、校准原理与步骤

‌开路校准‌
消除测试夹具与被测件并联的杂散导纳（如分布电容），需将测试端可靠开路后执行校准‌

‌短路校准‌
消除串联的残余阻抗（如引线电阻、电感），需用低阻抗短路片或导线牢固短接测试端后校准‌。‌负载校准（可选）‌
标准器件作为参考，通过传递系数补偿其他误差，适用于更高精度需求场景‌。二、校准注意事项

‌环境稳定性‌：温度、湿度变化或更换夹具后需重新校准‌。

‌接触可靠性‌：短路校准需确保夹具导通良好，避免接触不良引入误差‌。

‌频率选择‌：点频校准（单频率）或扫频校准（全频率范围）根据需求选择‌。三、校准后验证

测量已知标准件（如精密电阻、电容）验证结果一致性‌。

高频测量时需注意屏蔽干扰，推荐四端对开尔文夹具减少寄生参数影响‌。

通过上述校准可显著提升测量精度，尤其对低阻抗（如mΩ级）或高阻抗（如MΩ级）元件更为关键‌精密LCR阻抗分析仪的维护保养指南一、日常维护要点

‌环境控制‌

仪器应置于干燥、通风环境中，避免潮湿、灰尘及腐蚀性气体，长期不用时需用防尘罩覆盖并内置防潮硅胶‌。

避免剧烈振动或撞击，搬运时轻拿轻放，防止内部元件位移或损坏。

‌清洁与防静电‌

外壳清洁中性清洁剂和软布，禁止有机溶剂（如乙醇、丙酮）擦拭显示屏或光学部件‌。

测试夹具和探针需定期用酒精清洁，防止氧化导致接触不良‌。二、校准与性能验证

‌定期校准‌

每季度至少进行一次开路、短路及负载校准，标准件（如精密电阻、电容）验证测量精度‌。

更换夹具或环境温湿度变化后需重新校准‌。

‌功能检查‌

开机前检查电源线、接地线及接口连接状态，避免接触不良或过载‌。

通过测量已知标准件（如标称值电容）验证数据一致性，若偏差超过允许范围需返厂检修‌。三、故障预防与处理

‌常见问题应对‌

‌电源异常‌：检查插座供电或电池电量，过载保护触发时需断电静置后重启‌。

‌显示异常‌：黑屏/花屏可能为供电故障，字符乱码需重启或更新固件‌。

‌数据负值‌：检查测试频率是否过高（如电容测量建议100Hz-120Hz）或接线是否反接‌。

‌长期存放维护‌

每月通电1-2次，每次30分钟，防止电解电容老化或电路板受潮‌。

取出干电池避免漏液腐蚀电极，定期更换干燥剂‌。四、专业维护建议

复杂故障（如主板烧毁、信号源异常）需联系厂商或专业维修人员，禁止自行拆解。

保留原厂配件（如测试线、校准件）以备维修。

通过以上措施可显著延长仪器寿命并保障测量精度‌精密数字电桥LCR阻抗分析仪操作规范一、设备校准流程

‌开路/短路校准‌

‌开路校准‌：断开测试夹，按仪器“Zero”键选择“Open”模式，消除并联杂散电容影响‌。

‌短路校准‌：短接测试夹，选择“Short”模式补偿引线电阻和电感，适用于低阻抗测量‌。

‌负载校准（可选）‌：标准元件传递系数消除系统误差，适用于多仪器数据统一。

‌频率与模式选择‌

校准频率需与测量频率一致（如100kHz），串联/并联模式根据元件等效电路选择‌。

大电感（>200mH）或大电容优先选择低频串联模式，高阻抗元件（如高值电感）选用并联模式‌。二、测量操作步骤

‌参数设置‌

‌主参数选择‌：通过面板按键切换电感（L）、电容（C）、电阻（R）测量模式‌。

‌频率设置‌：根据元件特性选择频率（电解电容用120Hz，薄膜电容用1kHz-10kHz）‌。

‌信号电平‌：设置激励电压（通常0.3V-2V），避免过载损坏元件。

‌实际测量‌

连接被测元件，确保引脚清洁且与测试夹接触良好‌。

屏蔽外壳元件需接地，减少干扰‌三、注意事项

‌环境要求‌：温度20±5℃，湿度45%~75%RH，预热30分钟以上‌。

‌重复性验证‌：校准后需重复3次取平均值，误差需小于仪器允许范围。

‌维护周期‌：更换夹具或环境变化后需重新校准，建议每周至少一次‌。四、典型应用场景

‌电容测试‌：电解电容（120Hz串联）、薄膜电容（1kHz-10kHz并联）‌。

‌电感测试‌：通过 L−QL−Q 模式获取感值与品质因数，频率1kHz-100kHz‌阻抗分析仪核心参数解析一、基础参数

‌阻抗幅值（|Z|）‌

表示被测元件对交流信号的总阻碍作用，单位为欧姆（Ω），范围覆盖µΩ至TΩ‌。

测量精度可达0.05%，需结合频率和等效模型（串联/并联）选择‌。

‌相位角（θ）‌

反映电压与电流的相位差，决定阻抗的容性或感性特性，精度可达10mdeg‌。

相位误差直接影响品质因数（Q）和损耗因子（D）的计算精度。

‌实部（R）与虚部（X）‌

实部为电阻分量（R），虚部分为感抗（+XL）和容抗（-XC），用于等效电路建模二、衍生参数

‌品质因数（Q）‌

衡量储能元件（电感/电容）的能量损耗，计算公式 Q=∣X∣/RQ=∣X∣/R，高Q值元件需低相位误差校准‌。

‌损耗因子（D）‌

与Q互为倒数，表征能量耗散程度，适用于介电材料分析。

‌导纳（Y）与电导（G）‌

导纳为阻抗倒数，电导（G）为实部，用于并联模型分析‌。三、频率相关参数

‌谐振频率（Fs/Fp）‌

‌Fs‌：串联谐振点，阻抗小；‌Fp‌：并联谐振点，阻抗大‌。

通过扫频功能（线性/对数）定位，支持分段扫描优化分辨率‌。

‌半功率点（F1/F2）‌

导纳实部为大导纳一半的频率，用于计算机械品质因数 Qm=Fs/(F2−F1)Qm=Fs/(F2−F1) ‌四、特殊应用参数

‌机电耦合系数（Kp/Keff）‌

压电材料参数，反映电能与机械能转换效率，需专用算法计算‌。

‌介电常数（ε）‌

通过电容值（CT）和几何尺寸计算，公式 ε=(CT⋅t)/(π⋅D2)ε=(CT⋅t)/(π⋅D2)（t为厚度，D为直径）‌。五、校准与精度控制

‌四端校准法‌：通过开路/短路/负载校准消除系统误差，射频段需引入低损耗电容修正相位。

‌偏置功能‌：支持直流偏置扫描，模拟实际工作条件（如电解电容测试）‌