阻抗测试仪

阻抗测试仪测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数可以直接不用人工计算得到。

阻抗测试仪

核心性能‌：采用双CPU架构和数字信号处理技术，典型测量精度达0.05%，支持20Hz-2MHz宽频测量，可量化电感、电容、电阻等参数，并具备ESR测量和品质因数Q值分析功能‌

应用场景‌：适用于电路板故障检测，能通过寄生参数异常分析定位元件漂移问题‌。

技术优势‌：基于自动平衡电桥原理，基本精度0.05%，测试速度快5.6ms/次，支持20V交流信号和±40V直流偏置，阻抗测试范围达1GΩ‌高频介质损耗测量补充

对于更高频或特殊介质材料（如陶瓷、液体），可结合Q表与专用夹具

应用场景适配‌

‌研发/实验室‌：选择带图形化分析功能的；

‌生产质检‌：需分选功能和HANDLER接口；

‌现场检测‌：便携式系列更灵活。关键注意事项

‌校准与误差控制‌：标准电阻校准可提升精度，尤其对毫欧级阻抗测试‌；

‌阻抗范围匹配‌：高频陶瓷电容需恒定电平测试，大电感需带直流偏置电流源；

‌预算平衡‌:北广精仪GDAT系列性价比优于进口品牌，但条件下（如太欧阻抗）需更型号‌

验证测试需求‌：电解电容仅需100Hz/120Hz，而薄膜电容需100kHz双频测试；

‌接口兼容性‌：优先选支持USB以适配现有系统‌

宽频率范围，从20 Hz到3 GHz

在多个频率点进行连续测试的频率列表扫描

在高阻抗和低阻抗范围内，测量精度

配件种类齐全，非常适合测试含铅元件、表面贴装元件、半导体和材料

快速测量速度，具有的测量重复性

120 Hz、1 kHz和1 MHz测试频率

高速测量：2.3 ms（1 MHz），3.0 ms（1 kHz） 11.0 ms (120 Hz)

基本精度C：0.07%，（典型值±0.042%) D：0.0005（典型值 ±0.0003)

适用于生产测试的处理器和扫描仪接口

测量参数：C、D、Q、ESR、G

概述

GDAT-S是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。

◎可直接得到介电常数和介质损耗 不用人工计算

◎可测试电阻

◎ 4.3寸TFT液晶显示

◎ 中英文可选操作界面

◎ 高5MHz的测试频率

◎ 平衡测试功能

◎ 变压器参数测试功能

◎ 高测试速度:13ms/次

◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能

◎ V、I 测试信号电平监视功能

◎ 内部自带直流偏置源

◎ 可外接大电流直流偏置源

◎ 10点列表扫描测试功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻

◎ 内建比较器，10档分选和计数功能

◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存

◎ 测量数据可直接保存到U盘

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1～105

LCR阻抗分析仪的关键词可分为以下几类：一、核心功能关键词

‌阻抗分析‌：测量电阻、电感、电容的复数阻抗特性‌

‌LCR测试‌：专用于电感（L）、电容（C）、电阻（R）的元件参数测量‌

‌频率范围‌：如20Hz-130MHz、50Hz-100kHz等，不同型号覆盖不同频段

‌精度等级‌：如0.01%、0.05%等，反映测量准确度二、技术特性关键词

‌直流偏置‌：支持偏置电流源

‌扫描测试‌：支持频率扫描或参数扫描分析‌

‌夹具适配‌：弹性夹具（引线元件）、贴片夹具（SMD元件）

‌防静电设计‌：适用于敏感元件的测试环境三、应用场景关键词

‌元器件测试‌：电容、电感、电阻的批量检测

‌磁性材料分析‌：如半导体、磁性材料的阻抗特性研究‌

‌电子‌：电缆、电子元件的性能验证四、辅助功能关键词

‌上位机软件‌：支持数据统计分析

‌接口协议‌：RS-232、USB、LAN、GPIB等通信接口‌

‌校准补偿‌：高精度测试必需的步骤

ε和D性能：

固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。

ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进

测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度 ;0.1%

显示范围 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

显示范围 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

测量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准

等效方式 :串联方式, 并联方式

量程方式:自动, 保持

显示方式 :直读, Δ, Δ%

触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能:10档分选及计数功能

显示器;320×240点阵图形LCD显示

存储器 :可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）

工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，

精度：±0.02%

电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显

电容测量基本误差：±0.05%

损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显

介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样精确测量。

它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

微分头分辨率：10μm

高耐压：±42Vp（AC+DC）

电缆长度设置：1m