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布鲁克光学轮廓仪ContourX-100
- 品牌：布鲁克
- 型号： ContourX-100
- 产地：亚洲 其它
- 供应商报价：面议
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冠乾科技（上海）有限公司
更新时间：2024-09-14 13:31:05 -
销售范围售全国
入驻年限第5年
营业执照已审核
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产品特点
- 1.超强LED双光源，白光和绿光
2.垂直测量范围：0.1nm至10mm；为了保证测量精确性，全量程闭环扫描，可连续测量
0.1nm到10mmZ向起伏样品，无需缝合拼接
3.垂直方向的分辨率：≤0.1nm；
4.RMS测量的重复性：0.01nm；
5.台阶高度测量准确性：≤0.75%；
6.台阶高度测量重复性：≤0.1%；
7.测量台：X-Y行程150mm×150mm，自动控制；Z方向Z大行程100mm，自动控制;测
量台倾斜俯仰(±6°)；
8.Z大样品测试高度：100mm； 详细介绍
ContourX- 100光学轮廓仪为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。
该小尺寸系统采用流线型设计,结合了数十年专有的布鲁克白光干涉仪(WLI)创新,可提供2D / 3D高分
辨率测量功能。满足计量要求的台式系统具有先进的友好用户界面，可直观访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜和摩擦学应用分析，可用于表面粗糙度，RDLxian进封装工艺厚度等测试。
新一代增强功能包括新的五百万像素摄像头,新的载物台和新的测量模式,提供了更大的灵活性。
快速、可重复的三维计量
■与 放大倍率无关的Z轴分辨率
■大尺寸的标准 视场
■高稳定性和重复性的集成防震设计
特色的测量和分析功能
■易于使用的界面， 可快速准确地获得结果
■广泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析
■满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
计量功能
ContourX-100轮廓仪是布鲁克在非接触表面计量、表征和成像领域超过四十年的专有光学创新和作为的结晶。该系统结合三维白光干涉和二维成像技术在单次测量中实现多种分析。
ContourX-100对于反射率从0.05%到百分一百的各种表面都非常易于测量。
分析与回报
通过上千项自定义分析功能和简易但功能强大的VisionXpressM和Vision64@用户界面，ontourX-100为提高实验室和工厂车间的生产率进行了优化。这种独特的硬件和软件组合提供了对高重复性和高通量计量学测量的便捷访问,完全超过了同类计量技术。
沪公网安备 31011502008050号