针轮廓技术创新于一身,该系统在行业内的表现,以重现性佳和标准扫描范围大而著称。它提供各种各样的配置和附加选项,用于程序化测量、低探针力表征和细节分析
台阶仪Dektak 150 表面轮廓仪(探针式)
规格:
测试技术:探针轮廓技术
测试功能:二维表面轮廓测试
样品视场:640*480像素,USB;17 inc 平板显示器
探针传感器:低惯量传感器(LIS 3)
探针压力:使用LIS 3传感器:1至15 mg
使用N-lite传感器:0.03至15 mg
探针选项:探针曲率半径可选范围:50 nm至25 um;
高径比针尖:10 um * 2 um 和200 um*20 um
样品载物台:手动X/Y/@:100*100 mm, 360度旋转,可手动校平;
可选Y自动移动载物台,100 mm行程,1um重现性,0.5 um分辨率;
可选X-Y自动移动载物台,150 mm行程;
1um重现率,0.5 um 分辨率
计算机系统:主机使用celeron或者semprom处理器
软件:Dektak软件
台阶检测软件
可选应力测量软件
可选三维Vision分析软件
可选缝合软件
减震装置:可选桌式震动隔离装置
可选台式震动隔离装置
性能
扫描长度范围 55mm(2.1英寸)
每次扫描数据点多12万数据点
大样品厚度高达90 mm (4英寸),取决于配置
大晶圆尺寸 150 mm(6英寸)
台阶高度重现性 6埃
垂直范围:标准524um(0.02英寸);可选1mm
垂直分辨率:大1A(6.55um垂直范围下)
尺寸:292 mm *508 mm*527 mm
重量:34 kg
电源要求:
输入电压: 100-120VAC/200-240VAC, 50-60 HZ
无论是用于科学研究还是工业生产,
详细技术要求及参数:
• 测量重复性 6Å,1δ (10000 Å 标准台阶)。
Step height repeatability6 Angstroms, 1 sigma (1,0000 angstrom step).
• 大扫描长度 55mm,用于测量弯曲度和波度。
Maximum scan length = 55mm, for measuring curvature and waviness.
• 配有快速更换探针附件。
Quick-change stylus removal with stylus coupled to the sensor head magnetically using
kinematic mounts and special stylus removal fixture.
• 低噪音线性 LVDT 传感器,保证 Z 轴方向高分辨率测量。
Linear LVDT sensor for low noise, high resolution Z-axis measurements
• 电磁探针压力调整系统,不管探针在何垂直位置都可保证探针压力不变。
Electromagnetic stylus force adjustment mechanism to ensure stylus force is constant
irrespective of the vertical position of the stylus.
线性扫描——基于精确光学平面的样品台——提供了优越的基线稳定性,消除了几何测量误差。
Linear scan method – precision scan stage with optically flat reference – provides
excellent baseline stability, free of geometric measurement errors.
& 精确 6 英寸样品台(X-Y-Theta 手动定位)
Precision 6” sample stage with manual X-Y-Theta position adjustment
& 台阶检测功能,可自动测试多重台阶。
Step Detection feature for automatically measuring multiple steps
&彩色摄影镜头(放大倍数 166x 并配有视频图象自动捕捉功能),为报告和演讲提供丰富的图形数据。
Color video camera standard with 166x zoom magnification with video image capture
feature for use in reports and presentations.
&视频观测功能使探针在整个扫描过程中均处在观察中,保证了扫描数据和视频图象的相互关联。
Video overlay feature where stylus stays in view throughout entire scan. Ensures direct
correlation between scan data and video of sample
&大于 4 英寸的样品空间可确保大样品的测量。
Up to 4” sample clearance for larger samples
& 多扫描程序具有生成标准统计报告,用以计算标准偏差和平均值等结果。
Multi-scan program recipe capability standard with statistical report generating software
to calculate standard deviation and mean.
&软件有 30 种分析功能,包括程控数据过滤等,从而得到精确的粗糙度和波度结果。
30 Analytical functions built-in, including programmable cut-off filters for accurate
roughness and waviness calculations
& 低惯性感应器技术的应用可以把探针压力调整到 1mg,从而使出众的表面表征能力
得以实现。
Low inertia sensor technology to allow superior surface tracking with low stylus forces
down to 1 mg.
& 标准垂直测量范围 524um(1 mm可选择)
Standard 524 μm maximum vertical range (1mm optional)
• 数据采样点可达 120,000/扫描
Acquire up to 120,000 data points per scan
& 3/8”厚的环境环境罩, 可消除静电和电磁干扰。
报价:¥25
已咨询197次轮廓仪
报价:面议
已咨询221次轮廓仪/白光干涉仪
报价:面议
已咨询1247次探针
报价:面议
已咨询1334次台阶仪
报价:面议
已咨询793次探针式轮廓仪
报价:面议
已咨询3114次
报价:面议
已咨询2302次台阶仪
报价:面议
已咨询481次轮廓仪
P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了好的性价比。
KLA先进的探针式台阶仪Alpha-Step D-600,可测量纳米级至1200um台阶高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%台阶高度重复性以及亚埃级的分辨率
Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。
Alpha-Step D-500 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。
P-17是第八代台式探针轮廓仪。该系统领先业界,支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。
Alpha-Step D-600 探针式轮廓仪能够测量从几纳米到 1200微米的2D和3D台阶高度。D-600 还支持2D和3D的粗糙度测量,以及用于研发和生产环节的2D翘曲度和应力测量。D-600 包含一个带有200 毫米样品载台的电动样品台和具有增强影像控制的高级光学器件。
台阶高度:几纳米至1200μm 低触力:0.03至15mg 视频:500万像素高分辨率彩色摄像头 梯形失真校正:消除侧视光学系统引起的失真 圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 紧凑尺寸:小占地面积的台式探针式轮廓仪 主要应用 台阶高度:2D台阶高度 纹理:2D粗糙度和波纹度 形式:2D翘曲和形状 应力:2D薄膜应力 应用领域 大学,研究实验室和研究所 半导体和复合半导体 SIMS:二次离子质谱 LED:发光二极管 太阳能 MEMS:微电子机械系统 汽车 医疗设备