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Hitachi TM4000II / TM4000Plus II 钨灯丝扫描电子显微镜SEM

企业性质授权代理商

入驻年限第3年

营业执照已审核

联系方式：张经理18701866315

联系我们时请说明在仪器网（www.yiqi.com）上看到的!

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Hitachi TM4000II / TM4000Plus II 钨灯丝扫描电子显微镜SEM 核心参数

仪器分类:

AFM

详细介绍

观察图像3分钟。可迅速获得所需数据，并制作报告。

观察与分析的灵活性

自动获取各类数据。快速切换！

可快速获得元素分布图*2

*1TM4000PlusⅡ的功能。*2选配

使用Camera Navi*的话，就是如此简单

Camera Navi图像让您轻松找到视野，分布图(MAP)功能全程支持您的观察

*选配：Camera Navi系统

操作简单且快捷

观察图像只需 3 分钟。
可快速观察图像，并导出测试报告。

Report Creator可让您轻松制作报告

只需选择图像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的报告

即便是绝缘物样品，也无需预处理，就可直接进行观察。

“静电减轻模式”可抑制静电现象

对于容易产生静电的样品，可使用“静电减轻模式”，在抑制静电的状态下进行观察。
只需用鼠标在软件上点击即可切换到“静电减轻模式”。

可在低真空的条件下进行多种观察

对于容易产生静电的粉末或含水等样品，可结合其目的进行观察。

可在低真空的条件下进行二次电子像（表面形状）观察。

无需预处理，也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面

不仅是观察传统的导电性样品，还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。

高感度低真空二次电子检测器
采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光，可以观察带有二次电子信息的图像。此外，通过控制该检测器，来检测电子照射所产生的光，可以获得CL信息（UVD-CL：带有CL信息的图像）。

高感度低真空二次电子检测器的检测原理

可支持加速电压20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV。
凭借EDS分析（选配），可进行更高计数率解析。

通过加速电压20 kV，实现EDS元素分布图的高S/N化

Multi Zigzag（选配）

可实现在广域范围内进行SEM观察。
搭配自动马达台，可实现低倍率，高精度，大范围的观察分析。

非常简单的 EDX 分析

项目	TM4000PlusII	TM4000II
倍率	×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（显示器倍率）
加速电压	5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
图像信号	背散射电子二次电子复合图像（背散射电子+二次电子）	背散射电子
真空模式	导电体（仅背散射电子）标准静电减轻	标准静电减轻
样品可移动范围	X：40 mm Y：35 mm
最大样品尺寸：	80 mm（直径） 50 mm（厚度）
电子枪	集中灯箱(Pre-Centered Catridge Filament)
检测器	背散射电子：高感度4分割背散电子检测器二次电子：高感度低真空二次电子检测器	背散射电子：高感度4分割背散射电子检测器
排气系统（真空泵）	涡轮分子泵：67 L/s　1台隔膜泵：20 L/min
尺寸与重量	主体：330（宽度）×614（进深）×547（高度） mm、54 kg（附带马达驱动的样品台）主体：330（宽度）×617（进深）×547（高度） mm、54 kg（附带手动样品台）隔膜泵：144（宽度）×270（进深）×216（高度） mm

截屏2023-10-09 下午3.37.45.png

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