布鲁克 Dimension FastScan 原子力显微镜
布鲁克 Dimension Edge PSS 原子力显微镜
日立 AFM100 系列多功能扫描探针显微镜
日立 AFM5500M 全自动型原子力显微镜
日立 AFM5100N 通用型原子力显微镜

系列扫描探针显微镜
CSPM5500/5500A/5500LS
“国家重大科学仪器设备开发专项”成果转化产品

国际主流的研究级专业仪器,集成原子力显微镜(AFM),横向力显微镜(LFM),扫描隧道显微镜(STM)
分辨率: 原子力显微镜:横向0.2nm,垂直0.03nm(以云母晶体标定)
扫描隧道显微镜:横向0.1nm,垂直0.01nm(以石墨晶体标定)
高精度计量型仪器,采用NanoSensors提供的可溯源于国际计量权威机构PTB的标准样品进行校准
一键式快速全程全自动进样,无需手动预调,行程大于30mm,可容纳超大样品,最大样品尺寸为:45mm×45mm×30mm
两级可读数样品调节机构,可对样品进行精确的检测区域定位
一次扫描技术,图像分辨高达4096×4096物理象素,微米级扫描即可得到纳米级的实际信息
先进PID反馈算法实现快速高精度作用力控制,确保系统在高速扫描中稳定成像,实际扫描速度提升一个数量级
系统采用10M/100M快速以太网(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0与计算机连接,支持固件远程升级
主控机箱前面板具有16×4液晶显示屏,系统当前状态实时显示
具备实时在线三维图像显示功能,便于用户在检测过程中随时直观获得样品信息
集成了多功能,多模式的新型原子力显微镜。
标准模块:
原子力显微镜(AFM):包括接触、轻敲、相移成像(Phase Imaging)等多种工作模式
横向力显微镜(LFM):具有摩擦力回路曲线、摩擦力载荷曲线、摩擦力恒载荷曲线等摩擦学性能分析测量功能
扫描隧道显微镜(STM):包括恒流模式、恒高模式、I-V曲线、I-Z曲线等
曲线测量分析功能:力-距离曲线、振幅-距离曲线、相移-距离曲线等
选配功能:
纳米加工:包括图形刻蚀模式、压痕/机械刻画、矢量扫描模式、DPN浸润笔模式等
磁力显微镜/静电力显微镜
环境控制扫描探针显微镜
液相扫描探针显微镜
导电原子力显微镜
扫描探针声学显微镜
扫描开尔文探针显微镜
力调制模式成像技术
压电响应力显微镜
扫描电容显微镜
样品温度控制系统(控温范围:-20~150℃)
样品加热系统(控温范围:室温~250℃)
报价:¥430000
已咨询374次SPM/AFM 扫描探针原子力显
报价:面议
已咨询520次台式电子顺磁共振波谱仪
报价:面议
已咨询2655次原子力显微镜
报价:面议
已咨询679次原子力显微镜
报价:面议
已咨询651次台式扫描电镜
报价:面议
已咨询6828次表面成像
报价:面议
已咨询6380次化学科学
报价:面议
已咨询5240次扫描探针显微镜SPM (原子力显微镜)
Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量具有准确度好、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点。
高精度探针针尖变量的亚埃米级表面粗糙度测量,晶圆的表面粗糙度对于确定半导体器件的性能是至关重要的,对于先进的元件制造商,芯片制造商和晶圆供应商都要求对晶圆商超平坦表面进行更精确的粗糙度控制。
对于工程师来说,识别介质/平面基底的纳米级缺陷的任务是一个非常耗时的过程,Park NX-HDM原子力显微镜系统可以自动缺陷识别,通过与各种光学仪器的联用可以提高缺陷检测效率。
Park Systems推出NX-3DM全自动原子力显微镜系统,专为垂悬轮廓、高分辨率侧壁成像和临界角的测量而设计。
CSI是一家法国科学设备制造商,拥有专业的AFM设计概念,以及为现有的AFM提供设计选项。它避免了激光对准需要预先定位针尖的系统,针尖/样品的顶部和侧视图,结合垂直的马达控制系统,使预先趋近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点,可高速获得高分辨率的三维图像,并且在微纳米和亚纳米尺度上实时观察纳米级力的相互作用,与常规SEM/FIB兼容,