数字源表助力工程师提取半导体器件IV特性参数

半导体分立器件是组成集成电路的基础，包含大量的双端口或三端口器件，如二极管，晶体管，场效应管等。 直流 I-V   测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V  曲线，来决定器件的基本参数。微电子器件种类繁多，引脚数量和待测参数各不相同，除此以外，新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求，要求测试设备具备更高的低电流测试能力，且能够支持各种功率范围的器件。分立器件   I-V 特性测试的主要目的是通过实验，帮助工程师提取半导体器件的基本 I-V   特性参数，并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。

数字源表作为电学测量的常用仪器，在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到，源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量，使用非常广泛。

作为数字源表生产厂家，普赛斯仪表自主研发的高精度数字源表，填补国产空白，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，S系列Z大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，全触摸屏操作，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

产品特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作           

内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

源及测量的准确度为0.03%

四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至3pA

丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

支持USB存储，一键导出测试报告

支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

技术参数

Z大输出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：电压源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

电流源：±3.15安（≤10V量程），±1.05安（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

过量程： 105%量程，源和测量；

稳定负载电容：<22nF；

宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV       Vp-p（典型值）；

线缆保护电压：输出阻抗30KΩ，输出电压偏移<80uV；

Z大采样速率：1000 S/s；

触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；

输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太网；

电源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作环境：25±10℃；

尺寸：106mm高 × 255mm宽 ×425mm长；

S系列源表应用

分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；

选择普赛斯仪表的理由

武汉普赛斯是国内蕞早生产源表的厂家，产品系列丰富：产品覆盖不同的电压、电流范围，产已经过了市场的考验、市面有近500台源表在使用；

普赛斯仪表特色：高电流、高电压测试，3500V电压下可测量pA级漏电流，1000A脉冲电流源15us的超快上升沿。更多有关数字源表助力工程师提取半导体器件IV特性参数信息找普赛斯仪表专员为您解答