赛默飞世尔 透射电子显微镜 Talos F200C TEM
赛默飞世尔 透射电子显微镜 Talos F200X G2 TEM
赛默飞世尔 透射电子显微镜 Talos F200S G2 TEM
赛默飞世尔 透射电子显微镜 Talos F200i TEM
赛默飞世尔 透射电子显微镜 Talos F200i TEM
产品介绍:
为了提高科学家对复杂样品的理解并开发创新材料,他们必须能够获得强大、精确的仪器,能够关联形式和功能,并解析空间、时间和频率。
赛默飞世尔科技公司推出了赛默科技Spectra 200(S)TEM,这是一种高通量、像差校正(扫描)透射电子显微镜,适用于所有材料科学应用。
建立在超稳定的基础上
所有Spectra 200(S)TEM都在新的平台上交付,旨在通过被动和(可选)主动隔振提供前所未有的机械稳定性和最 高的成像质量。
该系统被安置在一个完全重新设计的外壳中,外壳内有一个内置的屏幕显示器,便于装载和移除样本。S次在高度可变的未校正配置和单次校正配置之间提供了完全的模块化和可升级性,允许最 大限度的灵活性。
上传人:赛默飞电子显微镜
大小:0 B
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报价:面议
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在研究先进材料时,首先需要对样品的表面形貌、晶体结构和化学成分有深刻的了解。无论您是想实现下一次技术创新,还是专注于产品研发和生产,这些性息都能帮助您更加了解初始材料的性能,评估缺陷,并确保成品的质量
用于自动化、高通量半导体晶片分析的 TEM 分析样品制备工作。
提供高分辨率 X 射线光电子能谱和成像的多技术表面分析仪。
用于快速原型设计和半导体电路调试和维修的电路编辑技术。