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C10178-01 纳米膜厚测量仪系列

品牌：日本滨松
型号： C10178-01
产地：日本
供应商报价：面议

滨松光子学商贸（中国）有限公司更新时间：2024-02-04 13:42:48

企业性质生产商

入驻年限第9年

营业执照已审核

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详细介绍

C10178-01 纳米膜厚测量仪系列

C10178-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。通过光谱相干，可快速、高灵敏度、高准确度地测量膜厚。由于使用我公司的光子多通道分析仪（PMA）为探测器，在测量多种滤光片、镀膜等的膜厚的同时，还可以测量量子收益、反射率、透射率以及吸收系数等多种项目。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息！

特性

高速、高准确度
实时测量
映射功能
不整平薄膜精确测量
分析光学常数（n,k）
可外部控制
与特定附件配合，可测量量子收益、反射率、透射率以及吸收系数等。

参数

型号	C10178-01
测量模型	标准型（通用测量）
可测膜厚范围（玻璃）	20 nm to 50 μm^*1
测量可重复性（玻璃）	0.01 nm^{2 3}
测量准确度（玻璃）	±0.4 %^{3 4}
光源	卤素灯
测量波长	400 nm to 1100 nm
光斑尺寸	Approx. φ1 mm^*3
工作距离	10 mm^*3
可测层数	最多10层
分析	FFT 分析，拟合分析，光学常数分析
测量时间	19 ms/点^*5
光纤接口形状	φ12套筒型
外部控制功能	RS-232C, 通过PIPE或Ethernet进行内部软件数据传输
接口	USB2.0
电源	AC100 V to 120 V/ AC200 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz
功耗	250W