扫描电子显微镜-量子超高分辨场发射扫描电子显微镜 SEM5000X
扫描电子显微镜-量子场发射扫描电子显微镜 SEM4000Pro
扫描电子显微镜-量子高速扫描电子显微镜 HEM6000
扫描电子显微镜 SU3500
扫描电子显微镜 S-3700N
JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统，通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品的特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。
JSM-6510/LA, JSM-6610A/LA 系列
可以在SEM图像上指定分析位置，开始EDS分析。
VID
将采集的X射线谱图和Visual PeakID（VID）合成的谱图进行比较，定性结果可以通过视觉、数值判断。
Play Back
Play Back (回放) 功能
用JEOL制造的EDS采集的元素面分布图，不仅保存了每一帧中各个像素点的谱图，还对每一帧中电子束形成的图像进行了存储。利用Play back功能，可以进行多角度的分析如观测谱图等随时间的变化等。测试后数据能够回放，可以观察到样品按时间顺序发生的变化，这是至今为止无法实现的。此外，利用Play Back功能还可以截取任意指定的画面。
Smile Station™ 2
Smile Station™2功能通过在多个视野上自动进行分析，生成SEM和元素面分布图的无缝蒙太奇图像，也可以在取得的视野上进行连续的元素面分布和点分析等。（ZG号4175597）
Dry SD 检测器
Dry SD 检测器（SDD检测器）与传统的EDS检测器不同，不需要液氮制冷。使用快速简单，同时实现了高分辨率和高计数率处理。
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已咨询1366次扫描电子显微镜
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已咨询660次日本电子 JEOL 扫描电镜
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已咨询1209次电磁流量计
日常使用的SEM，好用！ 该设备ZG分辨率1nm、ZD探针电流300nA（之前的15倍），可提供丰富的观测和分析信息，用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。
JSM-IT800的场发射扫描电镜通用性强，可广泛应用于纳米材料、金属材料、半导体材料、化学化工、医学及生物学领域，可GX观察包括非导体样品及强磁性样品等。 JSM-IT800SHL分辨率可达0.5nm,成像能力强大。浸没式电子枪可提供500nA大电流，EDS和EBSD分析速度极快。 另外JSM-IT800系列还搭载了众多全新研发的电子光学技术，自动化程度极高。
JPS-9030 光电子能谱仪 JPS-9030配有静电透镜和分析器等JEOL多年的成功技术，具有高灵敏度和高分辨率，设计紧凑。特别是低加速电压和大束流离子枪使这款光电子能谱仪可以对不同厚度的薄膜进行样品表面原子层到微米级厚度样品层分析。样品室和刻蚀室真空是完全独立的，杜绝了污染，更好的保护超真空系统。
JAMP-9510F这款场发射俄歇电镜具有世界上zui高的空间分辨率：zui小束斑直径3nm（二次电子图像）和8nm（俄歇电子图像）。使用多通道探头的新的半球静电能量分析器（HAS）优化了俄歇分析，适合化学态分析。中性离子枪可用于绝缘材料的俄歇分析。样品台可装直径达95nm的样品。并且此仪器可扩展为UHV-SEM。
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。
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