特点
切换检测器波长时会产生小的信号差异,即使这样UH4150也可实现高精度的测定。
安装在积分球上的多个检测器可在紫外-可见-近红外的波长范围内进行测定。由于使用日立专业的积分球结构技术和信号处理技术等,将检测器切换时(信号水平的差异)吸光度值的变化降到最小。

检测器切换时附近波长测定数据例
(金纳米棒的吸收光谱)
日立高性能的棱镜-光栅双单色器系统可实现低杂散光和低偏振。
UH4150采用棱镜-光栅(P-G)双单色器的光学系统,秉承U-4100光学系统的特点。 棱镜-光栅(P-G)系统与常见的光栅-光栅(G-G)系统相比,S和P偏振光强度没有大的改变。即使对于低透过率和反射率的样品,UH4150也可实现低噪音测定。
平行光束可实现反射光和散射光的精确测定。
入射角对固体样品镜面反射率的测定非常重要。对于会聚光束,由于入射角根据透镜的焦距等因素会不同,因此,像导电多层膜和棱镜等光学薄膜的模拟设计值将与实际测定值不同。
但对于平行光束,相对于样品入射角始终相同,实现了高精度镜面反射率的测定。此外,平行光束可用于扩散率(雾度)的评价和透镜透过率的测定。

镜面反射率测定示例
可提供适合不同测定目的的多种检测器。
可使用八种不同材料、尺寸和形状的积分球。*2*3

检测器产品线
采用全新人体工学设计。
改进样品室门,提升操作性。为了便于更换样品和附件的操作,采用了符合人体工学的设计。
兼容多种U-4100附件。
通用附件适用于两种型号。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,适合更多的测定类型。
比U-4100型更高的样品通量。
在秉承U-4100型光学系统高性能的同时,UH4150提供更高通量的测定。之前型号的仪器在1 nm数据间隔下测定时,扫描速度必须是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的扫描速度下以1 nm的间隔进行测定,显著缩短测定时间。*5 UH4150在约2分钟内可从240 nm测定到2,600 nm。对需要在紫外-可见-近红外波长范围内测定的样品,如太阳能反射材料,尤其有效。

扫描速度为600 nm/min的太阳能反射材料的反射光谱 扫描速度为1,200 nm/min的太阳能反射材料的反射光谱
系统产品线
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| 积分球检测系统 可使用各种60 mm积分球。 选配件:150 mm积分球或角度连续可变反射附件(此处列出的是60 mm标准积分球)。 | 直射光检测系统 直射光检测器内置于分光光度计内。提供其他选配检测器替换直射光检测器, 如各种积分球和角度连续可变反射附件。 |
应用范例
| 微小样品透过率测定 微小样品透过率测定附件可用于像微型玻璃和摄像镜头等样品的透过率测定。 | |
| 微小样品透过率测定(P/N 1J0-0204) 规格掩膜类型适合样品尺寸3 mm 掩膜 (标配)5 - 20, 厚度等于或小于3 mm1 mm 掩膜 (选配)3 - 20, 厚度等于或小于3 mm* 更换光源掩膜必须要使用随附 |
| 漫反射率测定 可将样品放在积分球后面(样品侧的入射角为0°)测定粉末等样品的漫反射率。 | |
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| 60 mm标准积分球(全反射和漫反射)(P/N 1J1-0120) 规格入射角0°波长范围240 - 2,600 nm |
参数规格
项目积分球检测系统直射光检测系统检测器
光电倍增管(UV-VIS) 和 冷却型PbS检测器(NIR)
标准积分球(内涂层:BaSO4)
60 mm 标准积分球(4口):反射样品上的入射角:
样品侧:8º, 参比侧:0º 60 mm 标准积分球(4口):
反射样品上的入射角:样品侧和参比侧:10º 60 mm 标准全积分球(2口)
高灵敏度积分球(内涂层:Spectralon®) 60 mm 高灵敏度积分球(4口):
反射样品上的入射角:样品侧:8º,
参比侧:0º 60 mm 高灵敏度全积分球(2口)
直射光检测器设置波长范围175 - 3,300 nm单色器棱镜-光栅,双单色器,预单色器:
使用棱镜的Littrow单色器,
主单色器:使用衍射光栅的Czerny-Turner单色器(2个可切换的衍射光栅)
数据处理单元PC操作系统:Windows® 7 专业版(32位或64位)
操作环境温度15 - 35C°
操作环境湿度25 - 80%(不结露,温度大于或等于30°时要小于或等于70%)
外观尺寸,重量900(宽)×760(深)×1,180(高) mm, 160 kg
| *1: | 以 U-4000型和U-4100型合计,数据截止到2012年10月 |
| *2: | 积分球检测系统 购买校准和性能检查用分光光度计时,必须包括任一个上述60 mm积分球。 |
| *3: | 直射光检测系统 分光光度计内置的直射光检测器用于校准和性能检查。如需更换分光光度计内置的检测器,请购买任一个上述积分球检测器。 |
| *4: | 某些附件不通用。更换检测器相关附件时,必须进行调整或更换电缆。 |
| *5: | 请根据样品特性和测定目的设定适当的测定参数,包括扫描速度。 |
| * | 请向经销商咨询150mm标准、高灵敏度积分球或角度连续可变反射附件的系统规格。 |
| * | 本系统仅用于科研,不能用于任何动物或人类的ZL或诊断。 |
报价:面议
已咨询2570次紫外可见分光光度计
报价:面议
已咨询5588次紫外分光光度计( UVNis/NIR)
报价:面议
已咨询473次分光光度计
报价:面议
已咨询2270次紫外可见分光光度计
报价:面议
已咨询2133次紫外可见分光光度计
报价:面议
已咨询4592次紫外、紫外分光光度计、紫外可见分
报价:¥158000
已咨询2607次近红外光谱(NIR FTIR UV-VIS-NIR)
报价:¥158000
已咨询922次紫外可见分光光度计(UV、UV-VIS)
日立紧凑型毛细管电泳DNA测序仪DS3000结构紧凑,同时秉承于日立优异的毛细管及激光检测技术,可轻松完成测序与片段解析。
日立高新磁控溅射器(Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了电磁管电极,能够Z大限度地减轻对样品的损坏,并在样品表面涂覆一层均匀粒子。适用于高分辨率的扫描式电子显微镜。
日立高新离子研磨装置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的混合模式带有两种研磨配置: 断面加工:将样品断面研磨光滑,便于表面以下结构高分辨成像。
离子研磨系统使用通过在表面上照射氩离子束引起的溅射效应来抛光样品的表面。样品预处理系统可以用于电子和先进材料等各个领域的研发和质量控制等。
日立高新技术科学公司于2019年3月起,在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。
标准配备改良过的测量参数自动调整功能,以及简单明了的图形用户界面。因此,即使是刚刚接触SPM的人,或者测量某种全新的样品时,也能取得具有较高再现性的数据。
AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。
AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能,可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。