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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT 3D
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
品牌:日本基恩士
型号:VR-6000
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布鲁克 Bruker光学轮廓仪 ContourX-200
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourX-200
- 产地:德国
ContourX-200 光学轮廓仪提供了高级表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的完美融合,是同类产品中最快、最准确、可重复性最高的非接触式三维表面计量系统。该计量系统占地面积小,采用更大视场、5MP 数码摄像头和全新电动 XY 工作台,具有卓越的二维/三维高分辨测量能力。ContourX-200 拥有出色的 Z 轴分辨率和精确度,具备布鲁克专有白光干涉(WLI)技术广受业界认可的所有优势,而且不存在传统共聚焦显微镜和同类普通光学轮廓仪的局限性。
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德国T&S TS-X 轮廓测试仪
- 品牌:德国T&S
- 型号: TS-X
- 产地:德国
仪器详情TS-X 轮廓测试仪,X轴承载工件,Z轴进行轮廓扫描,数据采集和控制都基于先进的数字技术。机械基础是很高质量的花岗岩使用基本元素不需要我们的系统的后续和复杂的错误补偿。稳定性好,使用寿命长。德国T&S TS-X 轮廓测试仪产品简介:TS轮廓测量仪GS / GM-X轮廓测量仪TS-X轮廓测量仪CV120轮廓测量仪CV300轮廓测量仪产品线:对中夹具 UZ系列外圆对中夹具 AZ系列对中水平放置台 KZT系列对中夹具 ZS系列综合支架 WSE系列角度调整卡 WSF系列棱柱支撑 WP/WPS系列德
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纳米级三维测量仪
- 品牌:德国Klocke Nanotechnik
- 型号: KLOCKE
- 产地:德国
仪器简介: 德国Klocke Nanotechnik公司生产的纳米级三维测量仪(3D Nanofinger)俗称纳米三坐标,是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸,表面轮廓、粗糙度等,并可与超精密微加工、微组装系统组合,进行在线检测、质量控制等。系统拥有5个自由度,可以根据样品设定测量路径,测量范围达到厘米级甚至更大。现已广泛应用于超精密机械加工、MEMS器件、半导体微电子加工、光学、分子生物学和精密工程。技术参数:设备主要参数:
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二手 东京精密 1710SD3 轮廓度仪
- 品牌:东京精密
- 型号: 1710SD3
- 产地:日本
东京精密轮廓形状测量机1700D实现轮廓检出器高精度化。用模拟检出器,超越数控的高精度,实现更高等级的精度。另外,DX3系列因为作为省空间设计,能有效利用测量室。简单评价通用零部件的轮廓形状用投影机和工具显微镜评价的零部件的轮廓形状能在短时间内正确的测量出来。还有,测量结果可以直接转换成检查成绩书。 ■采用新型线形马达驱动部(申请中)能达到世界Z高水平的测量速度和低振动,实现更加稳定的高倍率测量。而且,国为是构造简单的非接触式驱动,所以能长期稳定的使用。 ■使生产性大幅度提高的高速测量轮廓测量Z大20mm/s, 移动速度 Z大60mm/s测量效率 Z大提高10倍
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中图仪器SJ5700轮廓仪
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: 中图仪器SJ5700
- 产地:深圳
【产品简介】中图仪器SJ5700轮廓仪测量原理为直角坐标测量法,即通过X轴、Z轴传感器,测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点,通过电器组件,将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机,软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理,标注所需的工程测量项目。【测量项目】中图仪器SJ5700轮廓仪可测量各种类型工件表面的线要素、点要素,点与点的距离、线与线的距离,各要素的位置度包括:距离、平行度、垂直度、角度、槽深、槽宽、半径,可进行直线度分析,凸度分析、轮廓度分析。【应用行业】中图仪器SJ5700轮廓仪广泛用于机
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光学轮廓仪 Zeta-388 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-388
- 产地:浦东新区
Zeta-388支持3D量测和成像功能,并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统,可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、低拥有成本,以及SECS / GEM通信,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-300 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-300
- 产地:浦东新区
Zeta-300支持3D量测和成像的功能,并提供整合隔离工作台和灵活的配置,可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-300具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-20 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-20
- 产地:浦东新区
Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。
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探针式轮廓仪 HRP®-260 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: HRP®-260
- 产地:浦东新区
HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至300微米的台阶高度测量功能。 P-260配置支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D及3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 HRP-260配置的功能与P-260相同,并增加了可以生产类似AFM扫描结果的高分辨率平台。 HRP平台具有先进的图案识别算法,可增强系统间程序的移植,这是24x7生产环境的关键要求。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-170 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-170
- 产地:浦东新区
Tencor P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 Tencor P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性能的稳定和系统间配方的无缝移植- 这是24x7生产环境的关键要求。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-17 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-17
- 产地:浦东新区
Tencor P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-7 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-7
- 产地:浦东新区
Tencor P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
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探针式轮廓仪 Alpha-Step® D-500 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Alpha-Step® D-500
- 产地:浦东新区
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和先进的光学系统以及加强视频控制。
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光学轮廓仪 Profilm3D
- 品牌:美国KLA
- 型号: Profilm3D
- 产地:浦东新区
Filmetrics® Profilm3D®和Filmetrics Profilm3D-200光学轮廓仪采用白光干涉测量(WLI)技术,是经济实用的非接触式3D表面形貌测量系统。Profilm3D系列可以测量从纳米到毫米级的表面特征,并生成高分辨率3D表面数据和TotalFocus™图像(景深等于垂直扫描距离的彩色3D图像)。Profilm3D的菜单设置简单而灵活,可进行单次多点扫描或自动多点测量,非常适合研发和量产应用。
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轮廓仪
- 品牌:法国TRIBOtechnic
- 型号: LKY
- 产地:法国
通过无支架导轨模块来完成测量涂层或基底材料的磨耗速率
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SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: SJ5701-200
- 产地:深圳
SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪性能特点:1、 高精度、高稳定性、高重复性:满足被测件测量精度要求:1) 选用高精度光栅测量系统和高精度电感测量系统,测量精度高;2) 自主研发高精度研磨导轨系统,导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作;3) 高性能直线电机驱动系统,保证测量稳定性高、重复性好;2、 智能化管理与检测软件系统:仪器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握仪器操作,使用简便。1) 10多年积累的实用检定软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;2) 功能强大、自动处理数据、打印各种
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中图仪器SJ5700轮廓测量仪
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: SJ5700
- 产地:深圳
【产品概述】中图仪器SJ5700轮廓测量仪可测量各种精密机械零件的素线轮廓形状参数,角度处理(坐标角度,与Y坐标的夹角,两直线夹角)、圆处理(圆弧半径,圆心到圆心距离,圆心到直线的距离,交点到圆心的距离,直线到切点的距离)、点线处理(两直线交点,交点到直线距离,交点与交点距离,交点到圆心的距离)、直线度、凸度、对数曲线、槽深、槽宽、沟曲率半径、沟边距、沟心距、轮廓度、水平距离等形状参数。【产品结构】【性能特点】1、 高精度、高稳定性、高重复性:满足被测件测量精度要求。1) 选用高精度光栅测量系统和高精度
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探针式轮廓仪/三维形貌仪
- 品牌:美国AEP
- 型号: NANOMAP 500LS
- 产地:美国
NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美
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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
- 品牌:美国AEP
- 型号: NANOMAP D
- 产地:美国
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领xian供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能最全面,技术zuixianjin的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既
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多功能摩擦磨损试验机
- 品牌:美国AEP
- 型号: UT-3000
- 产地:海淀区
多功能摩擦磨损测试
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深圳中图一体型表面粗糙度轮廓检测仪器
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: SJ5800
- 产地:深圳
SJ5800一体型表面粗糙度轮廓检测仪器强大的产品功能及高精度测量能力可以满足发动机关键零部件的轮廓尺寸测量需求。如分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测.
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三维光学轮廓仪 ContourSP
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourSP
- 产地:德国
三维光学轮廓仪ContourSP综合性工业计量,实现快速、高精度的PCB生产控制。 三维光学轮廓仪ContourSP独树一帜的系统特征,确保最高的产量,最大的正常运行时间,最低的成本。 最高值吞吐量,提供2倍更快的数据,而不影响准确性。
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三维光学轮廓仪 HD 9800+
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: HD 9800+
- 产地:德国
三维光学轮廓仪HD 9800+完全自动化,提供高速滑块CCT和PTR特性。 三维光学轮廓仪HD 9800+专利尖端/倾斜头,使快速自动化计量具有最高的重复性。 流线型软件,简化了操作员对操作员的数据存储、分析和报告的使用。
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三维光学轮廓仪 NPFLEX
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: NPFLEX
- 产地:德国
三维光学轮廓仪NPFLEX可配置硬件和软件,满足几乎任何样品、形状或尺寸的测量需要。 崎岖建筑,适应严格的制造环境。 三维光学轮廓仪NPFLEX自动化测量例程,加快生产计量和分析结果。
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Veeco/Wyko NT1100 表面轮廓仪/粗糙度仪 白光干涉仪 销售维修
- 品牌:美国Veeco
- 型号: NT1100
- 产地:美国
Veeco/Wyko NT1100 表面轮廓仪/粗糙度仪 白光干涉仪 销售维修 产品信息 品牌:Wyko 型号:NT1100
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上海舒耀粗糙度轮廓仪CX系列
- 品牌:上海舒耀
- 型号: CX系列
- 产地:静安区
CX系列粗糙度轮廓仪采用先进的一体化传感器,并全面更新优化了操作软件,使仪器测量更精确,重复性更稳定,使用更方便。更有大规格测量仪器供新老用户选择。 本公司积极向国际水平看齐,经努力研制开发了CX系列粗糙度轮廓仪。仪器采用天然金刚石触针及硬制合金斧形触针(可互换),电感式触头及高精度传感器,智能化程度高,测量精度高,稳定性重复性好,外形美观,打印输出使用方便,使适用于机械加工制造行业及轴承制造行业使用。并可为用户测量特殊工件而开发并为客户量身定制设计专用的软件。 可用于长轴类、筒类、曲面零件、丝杠、螺纹等高精度部件的内外径尺寸、内外轮廓形貌参数测量,非常适合航空、船舶、高铁、新能源汽车、医疗等行业。该产品支持量程定制,适用于各行业领域的实验室或工作现场使用。
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Bruker ContourGT-I 三维光学显微镜
- 品牌:
- 型号: ContourGT-I
- 产地:美国
ContourGT-I 三维光学显微镜全球首chuang的扫描头倾斜自动样品台桌面型测量系统ContourGT-I 三维光学显微镜集三十年表面测量之大成,将创新与工业界合作的经验集合到一台桌面型系统上,实现面向生产自动化需要,测量角度灵活,的成像质量,和已经验证的可定标的稳定测试性能。通过布鲁克独有的扫描头倾斜技术,该系统可解决倾斜样品台测试时引起的样品位置变化,从而轻松实现在一定角度内自动倾斜对表面特征进行测量。zuixin一代的Vision64 软件结合改进的样品台设计进一步提高了使用的方便性,更
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探针式轮廓仪 Alpha-Step® D-600 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Alpha-Step® D-600
- 产地:浦东新区
Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动200毫米样品卡盘和先进的光学系统以及加强视频控制。
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日本三丰Mitutoyo轮廓仪CV3200
- 品牌:日本三丰
- 型号: CV-3200/4500
- 产地:日本
日本三丰Mitutoyo公司自一九三四年创业以来,以“质量**”为宗旨,向全球范围的广大市场提供千分尺、卡尺等量具以及三坐标测量机、形状测量系统、视像测量系统及光学仪器等系统精密测量仪,长期以来深受广大用户的喜爱和支持。现今,更有幸作为精密测量仪的综合制造商和世界知名品牌的拥有者向社会作出贡献。
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P-17 台式探针式轮廓仪
- 品牌:美国AEP
- 型号: P-17
- 产地:美国
P-17是第八代台式探针轮廓仪,是40多年的表面量测经验的结晶。该系统领xian业界,支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。该系统结合了UltraLite®传感器、恒力控制和超平扫描平台,因而具备出色的测量稳定性。 通过点击式平台控制、顶视和侧视光学系统以及带光学变焦的高分辨率相机等功能,程序设置简便快速。 P-17具备用于量化表面形貌的各种滤镜、调平和分析算法,可以支持2D或3D测量。 并通过图案识别、排序和特征检测实现
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日本三丰轮廓测量仪/l轮廓仪CV-2100M4/轮廓测量仪
- 品牌:日本三丰
- 型号: CV-2100M4
- 产地:日本
实现『简便· 准确· 快速』测量的轮廓形状测量仪 • 与测量操作相关的配置集中设置在主机前面,大幅减少了操作流程。 • 对X 轴位置定位时,可在全测量范围内通过电动飞梭轮粗微调整,轻松进行。 • 装配了新开发的可以简便快速垂直移动的台架(仅CV-2100M4 装配),Z 轴方向的测量高度可以轻松快速的接近或退避。 • Z1 轴(检出器) 装配了新开发的高精度圆弧标尺。直接读取测针的圆弧轨道,能缩小检出器导致的误差,确保高精度和高分辨力。无需像模拟检测方式那样切换测量倍率,或在每次调整倍率时进行校正操作,可在全测量范围内进行测量。 • 可根据用途选择CV-2100M4/N4 主机,选配数据处理装置(笔记本或台式电脑)。
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轮廓仪,日本三丰轮廓仪,进口轮廓仪,轮廓度测量,轮廓测试仪
- 品牌:日本三丰
- 型号: CV-3200
- 产地:日本
特点 • 大幅度提高了驱动速度(X 轴:80mm/s, Z2 轴:20mm/s),近一步降低了总测量时间。 • 为了在一定时段内维持仪器的直线度规 格,三丰公司采用了具有的耐摩擦 性及稳定性的高硬度陶瓷导轨。 • 大量的外周设备选件支持CNC 模式,从 而可以很容易实现CNC 测量。 • 驱动装置(X 轴) 和立柱(Z2 轴) 中集成了高 精度线性编码器(Z2 轴为ABS 型),从而提 高了在垂直方向持续自动测量小孔和不易定位工件的重复精度。 • X 轴精度:±(0.8+0.01L)μm, Z1 轴精度:±(1.4+|2H|/100)μm*,针对高精度工件的测量所设计。
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瑞士W+B试验机现代化升级
- 品牌:瑞士W+B
- 型号: LFM/V
- 产地:海淀区
W+B提供不同水平制造商生产的所有类型试验机的现代化升级,升级后的试验系统,生产效率和可靠性会明显提高,也不管试验机是液压还是电力驱动的,我们均可用数字控制器及在个人电脑上运行的wan能材料试验软件包DION代替过时的控制系统,从而完成系统的现代化 升级。标准化设计的W+B现代化系统通常由数字控制器、测量系统、新液压能源或新电力机械驱动系统,现有编码传感器更新后的新传感器,以及材料试验软件包组成。我们能够考虑到通过增加生产效率的测量装置,来实现测试系统的现代化升级。
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轴承检测行业的“神兵利器”——SJ5730大曲面粗糙度测量仪
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: SJ5730
- 产地:深圳
大曲面粗糙度、轮廓一次检测
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东京精密(Accretech) 表面粗糙度轮廓形状测量仪
- 品牌:东京精密
- 型号:
- 产地:日本
东京精密(Accretech) 表面粗糙度轮廓形状测量仪 这是一款高精度技术的新型混合检测器,同过去的检测器不同,将大范围内精度稳定的线性光栅尺和小范围内高分辨率的差动电感混合一体。 这两种不同的传感器在测量时同时感应,zui大限度地发挥传感器的潜能。
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东精精密 轮廓形状测量机 东京精密粗度仪SURFCOM 1600G
- 品牌:东京精密
- 型号: 1600G
- 产地:日本
日本东京精密CONTOURECORD1600G轮廓形状测量机 东京精密轮廓形状测量机1600G 自动要素判别功能(AL性能) ●不用点、直线、圆等要素,自动判别出来。 尺寸显示功能 ●参数、几何偏差的实测值在图形上显示出来。 形状的合成功能 ●解决由于触针所跟踪角度分析范围受限的情形。 波峰波谷功能 ●可由触针寻迹,检出工件大点,使校正变得容易。 计算点重复性能
- 轮廓仪
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