仪器网(yiqi.com)欢迎您!

| 注册2 登录
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-方案-产品库- 视频

应用方案

仪器网/ 应用方案/ MicOS应用于III-V族半导体材料光致发光及微结构检测

立即扫码咨询

联系方式:400-822-6768

联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!

扫    码    分   享
1能与多个激发波长匹配 2内置数码相机设计,可实时观察样品 3可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择,便于测量侧向发光器件或放置在正置低温恒温器中的样品 MicOS显微光谱测量系统

参与评论

全部评论(0条)

推荐方案

在线留言

上传文档或图片,大小不超过10M
换一张?
取消