扫描电镜和X射线能谱应用于涂布纸涂层的分析

电子显微镜(SEM)和 X -射线电子能谱(XPS), 同时结合实验对其运用进行了详细的介绍和分析 结果表明:SEM 和 XPS相结合应用于涂层分析, 可以很好地获得涂层形貌和结构的信息 蔡司SIGMA 500高分辨率场发射扫描电镜 蔡司SIGMA 300场发射扫描电镜 蔡司GeminiSEM 300/VP超高分辨率场发射扫描电镜 钨灯丝系列扫描电镜 EVO MA 10/LS 10 蔡司（ZEISS） EVO 18钨灯丝系列扫描电镜