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【热点应用】XRD分析电池正极材料应该使用什么样的仪器配置?

来源:马尔文帕纳科 更新时间:2025-02-27 20:15:10 阅读量:372
导读:高质量数据满足Rietveld分析阳离子混排及晶粒尺寸分析

本文由XRD应用专家张彦瑜供稿

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本文摘要

在锂离子电池正极材料的晶体结构表征中,正极材料中的过渡金属元素与常规铜靶X射线的相互作用易诱发强烈二次荧光效应,导致衍射图谱背景增高,信噪比不佳。是否可以通过更改光路配置,达到高灵敏度和最佳的数据质量?本文通过实际案例为您介绍X射线衍射仪测量正极材料时的最佳光路配置,帮助您在测试中获取更好的数据。


01背景介绍

X射线衍射(XRD)是分析锂离子电池正极材料的一种重要工具。正极材料,例如常用于电动车(EV)电池的磷酸铁锂(LFP)和三元氧化物(NMC),可能存在阳离子混排和晶界等缺陷,从而影响到它们的性能和耐久性。XRD常用于研究此类缺陷及合成的正极材料的晶相。


XRD是一款配置可调不固定的仪器,因此可以根据待测材料定制其光路,以确保高灵敏度和最佳数据质量。正极材料包含过渡金属元素(例如铁、镍、钴、锰),当使用传统的铜靶射线分析时会激发出强荧光;这种荧光会导致XRD衍射图中的高背景,降低了微量相的灵敏度。然而,选择特定的光学部件及探测器组合可以明显减少由此带来的背景,提高数据质量。


02丨关键光学元件的选择

XRD测试平台主要有入射光路、测角仪、样品台、衍射光路组成,以下对XRD测量中常用的关键光学器件,也就是入射光路和探测器作简单介绍:

入射光路的选择

机械狭缝(Motorized Slit):一种广泛应用于XRD的光路部件,与光刀(Beam Knife)结合使用可以提供良好的低角度表现。然而狭缝光路系统需要β滤波片来消除衍射图谱中的kβ峰,而滤波片同时会使kα峰的强度也降低50%左右。


BBHD(或iCore)光路部件:这种基于多层反射镜的单色器能提供~450eV的分辨率,可在光源处过滤掉β波长和白辐射,提供出色的低角度性能和高强度、低噪音的衍射图。


图1 基于粉末衍射几何的多功能模块


探测器的选择

0维或1维探测器都可用于粉末衍射测试,1维探测器能提供更快的测试速度。1维探测器分为两类:低能量分辨率(>1500eV)和高能量分辨率(<350eV),高能量分辨率探测器是高荧光样品的首选,能够提供优越的测试性能。


图2 XRD探测器系列


03实用案例:Li-NCM111正极材料

在这个案例中,我们使用四种不同的XRD配置测量了BAM-S014 Li-NCM111认证的参考样,每种配置都有特定的入射光路模块和探测器的组合。配置总结如下表所示:


使用四种不同配置测试得到的衍射图谱比较如图1所示。

图1:使用PDS和BBHD和两种不同能量分辨率设置下的1Der探测器测试的XRD图谱对比


对低角度和高角度部分放大后的衍射图谱如图2、图3所示。

图2:使用PDS和BBHD和两种不同能量分辨率设置下的1Der探测器测试结果低角度放大图像

图3:使用PDS和BBHD和两种不同能量分辨率设置下的1Der探测器测试结果低角度放大图像


结果表明,340eV的能量分辨率比传统的1500eV能量分辨率更具有明显的优势,在340eV设置下测量时,信号背景(S/B)比明显更好。此外,在给定的能量分辨率下,与机械狭缝比较,使用多层反射膜光路部件(如BBHD或iCore)可以增强信号强度,并进一步降低背景噪音。


采用不同XRD配置后得到的信号/背景比总结如下表:

从S/B比可以看出,BBHD结合340eV能量分辨率探测器对正极活性材料的分析提供了最优质的数据。


高质量的数据适用于Rietveld精修以提取关键参数,如阳离子混排和晶粒尺寸。HighScore Plus软件精修示例如图4所示,此样品中阳离子混排率为7%,晶粒尺寸为92nm。

图4:对XRD数据的Rietveld精修得到此样品中阳离子混排率为7%,晶粒尺寸为92nm



Conclusion

用XRD分析正极材料时,高能量分辨率探测器(<350eV)在消除Mn、Fe、Co和Ni等过渡金属荧光上具有明显的优势。用Co靶代替Cu靶也可以消除Fe和Co的荧光,但不能消除Mn的荧光。因此,高能量分辨率探测器是分析各种正极材料的绝佳选择。


结合高能量分辨率探测器和BBHD或iCore,可以进一步降低背景,增强信号,提高数据质量,从而在XRD衍射数据中提供最佳的背景。这样的高质量数据可以用来确定关键参数,如阳离子混合和晶体尺寸,以及正极材料的晶体相结构。


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