产品介绍|Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光谱仪

样品室尺寸

W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm

样品台

W x D: 330 mm x 170 mm, 最大载重： 7 kg

测量气体

空气环境或可调真空（配备无油泵，约3分钟可达2毫巴），可选氦气吹扫系统

样品行程

最大行程： W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm

扫描行程： W x D: 190 mm x 160 mm

移动速度：采用TurboSpeed样品台时最高可达100 mm/s

样品视图

双路实时俯视成像系统（不同放大倍率）实现样品概览与精确定位，侧向鱼眼镜头提供样品室全景监控

激发

第一X射线管：高亮度、轻元素微焦斑X射线管，配备多导毛细管X射线光学系统和孔径管理系统（AMS）

靶材：铑（Rh），可选银（Ag）

管参数：50 kV，30 W

光斑尺寸：使用多导毛细管透镜时，≤20μm (Mo Kα @17.5 keV)

可选第二X射线管：细聚焦X射线管，配备四位置准直器切换装置，准直器尺寸从0.5 mm到4.5 mm

靶材：钨（W），可选铑（Rh）、钼（Mo）、铜（Cu）、铬（Cr）

管参数：50 kV，40 W

滤光片：8种激发滤光片

探测器

XFlash®超轻元素硅漂移探测器，可检测从碳（C）到镅（Am）的元素，支持双探测器 。

敏感区域面积：2 x 60 mm²；

能量分辨率：< 145 eV（在输入计数率为 600,000 cps 时）；

吞吐量：最高可达 550,000 cps 输出计数率

仪器控制

先进的PC，Windows®操作系统

X射线管参数、滤光片、光学显微镜、样品照明及样品定位全面控制

光谱评估

峰识别、伪影与背景校正、峰面积计算、FP定量分析，使用 XMethod 进行基于标样和无标样的校准定量分析

分布分析

“On the fy” 测量，HyperMap功能

结果呈现

定量分析结果，统计评估，元素分布（线扫描，面扫描）

电源要求

100 - 240 V (1P), 50/60 Hz

尺寸和重量

W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg*

质量与安全

DIN EN ISO 9001:2015, CE 认证，UKCA 认证；全面辐射防护系统；辐射量 < 1 μSv/h