Technoorg 的离子研磨抛光仪 SEMPREP SMART 面向实验室、科研与质量检控等场景,提供高稳定性的一体化制样能力。通过可编程的离子束抛光、智能工艺曲线与全局诊断,它能够在不损伤样品基底结构的前提下实现均匀、低损伤的截面制备,提升后续分析的重复性与可比性。
型号与参数概览
- SEMPREP SMART-100
- 离子束能量范围:0.5–5.0 keV
- 离子束电流:10–150 µA
- 样品最大直径/厚度:25 mm × 20 mm
- 真空度:5×10^-6 mbar(系统级极限)
- 腔体尺寸/重量:约480 × 360 × 520 mm,约60 kg
- 控制系统:基于本地化智能算法的参数配方库
- SEMPREP SMART-200
- 离子束能量范围:0.3–3.0 keV
- 离子束电流:20–300 µA
- 样品最大直径/厚度:40 mm × 25 mm
- 真空度:3×10^-6 mbar
- 腔体尺寸/重量:约600 × 420 × 640 mm,约85 kg
- 控制系统:多任务并行处理,支持自定义工艺模板
- SEMPREP SMART-400
- 离子束能量范围:0.3–2.0 keV
- 离子束电流:50–500 µA
- 样品最大直径/厚度:75 mm × 40 mm
- 真空度:2×10^-6 mbar
- 腔体尺寸/重量:约780 × 520 × 700 mm,约130 kg
- 控制系统:高级自动化与仿真对比,具高通量抛光能力
核心技术特征与优势
- 自动化工艺与参数优化
- 内置工艺库覆盖金属、陶瓷、聚合物及复合材料的常用抛光曲线,支持按材料组别快速切换;通过传感器反馈实现实时参数微调,确保抛光厚度与表面均一性稳定。
- 精准离子源与能量控制
- 采用可调离子束能量与电流的组合,辅以温控与热膨胀补偿,降低应力产生与表面粗糙度波动,适合对截面质控要求高的样品。
- 实时监测与数据溯源
- 软件界面显示抛光深度、表面粗糙度趋势与耗材状态,操作日志可一键导出,便于在质控、 audits 与 LIMS 集成时追踪样品制备过程。
- 耗材与维护友好性
- 模块化设计便于更换离子源、冷却件与过滤单元,常规维护间隔长,耗材兼容性良好,降低停机时间。
- 适配性与扩展性
- 三个型号覆盖从小型到中大型样品范围,结合可编程参数和工作流程,便于建立多工厂标准化制样方案,提升跨实验室的一致性。
场景化应用要点
- 半导体材料断裂与界面分析
- 适合对硅、氮化镓等材料的晶界、沉淀物与界面区域进行平整化抛光,便于后续的 TEM/EDS 观察。
- 金属合金与涂层截面
- 对镍基、铜基及涂层材料的厚度分布进行定量分析,抛光厚度控制在微米级别内,确保横截面清晰可测。
- 陶瓷与复合材料
- 针对多相材料的相界面处理,减少相间转变带来的表面干扰,提升后续显微结构表征的对比度。
- 高分子材料与复合树脂
- 通过低能量段实现表面微平整,避免热效应引发的变形,利于聚合物断面观察和碳化评估。
操作要点简述
- 选择合适的能量档与工作区域
- 对脆性材料优先采用低能量、低电流组合,逐步提高以达到均匀截面。
- 监控工艺曲线
- 关注抛光深度、表面轮廓变化以及耗材状态,必要时回退到保守参数再重新优化。
- 记录与对比
- 使用同一材料、同批次样品在不同参数下的对比数据,建立行业内的可重复性基线。
场景化FAQ
- Q1:如何在不同材料间选择参数,特别是硬脆材料的能量区间?
- A1:硬脆材料宜从低能量起步,如0.5–1.5 keV,逐步增至达到理想表面均匀性,注意在高功率段引入冷却和短脉冲策略以减少热影响。
- Q2:SEMPREP SMART 与传统机械抛光相比的优势是什么?
- A2:离子研磨不依赖填充剂与磨料颗粒,能实现更均匀的截面、较低的残留微塑性变形,并且对异质材料界面具有更好的控制力。
- Q3:样品尺寸较大时,设备的处理能力是否受限?
- A3:SMART-200 与 SMART-400 已覆盖较大直径样品,配合可选的夹具与工艺模板,能够实现高吞吐与一致性,但极端尺寸需与厂家确认载物台适配性。
- Q4:使用过程中的耗材如何管理?
- A4:主要耗材包括离子源相关部件与过滤组件,系统提供耗材寿命预测功能,建议按厂家推荐的更换周期执行,配合数据追踪即可降低停机风险。
- Q5:是否支持与实验室信息管理系统(LIMS)集成?
- A5:是,控制软件提供标准化数据导出格式和 API 接口,便于将制样参数、过程日志与图像数据整合到现有信息系统中。
- Q6:不同材料的后续分析需要进行哪些参数记录?
- A6:应记录材料类别、样品编号、抛光模式、离子能量与电流、耗材批号、抛光深度、最终表面粗糙度、制样时间和图像样本编号,以实现追溯与比对。
总结
SEMPREP SMART 系列以可编程、智能化的离子研磨抛光能力为核心,覆盖从小型到中大型样品的制样需求。通过多档位能量与电流、稳定的真空与冷却系统,以及友好且可追溯的工艺数据,帮助实验室在质控与研究分析中获得高重复性、低损伤的截面制备结果。实际参数以厂家公布为准,建议在阶段结合自身材料特性与分析目标进行工艺校准,以实现佳制样效果。
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