高压浮地测量因其危险性与复杂性,使得传统无源探头难以胜任,必须采用隔离探头或高压差分探头。但面对多样的探头类型,如何精准匹配实际应用需求?关键在于解答以下三个核心问题。
一、直流母线电压参数如何?
直流母线电压直接决定探头的耐压上限。对于交流线路信号,需关注其峰峰值电压;在开关功率器件中,母线电压通常是交流线路全波整流后的峰值电压,或是驱动器 / 逆变器电路脉宽调制(PWM)信号的幅值。明确该电压参数,才能确保所选探头的额定电压足以应对测量需求,避免因电压过载导致设备损坏或测量失效。
二、半导体器件采用何种材料?
硅(Si)、碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)是半导体器件的常用材料,不同材料对开关信号上升时间的要求存在显著差异:
硅(Si)器件:一般难以处理上升时间快于 10ns 的信号;
碳化硅(SiC)器件:上升时间多在 3 - 5ns 或更慢;
氮化镓(GaN)器件:上升时间约为 1 - 3ns 。
电压摆幅与上升时间呈反比,较大的电压摆幅往往对应较慢的上升时间,这有助于抑制电磁干扰(EMI)。而要测量快速上升时间信号及其谐波成分,探头必须具备足够带宽。例如,测量 GaN 器件栅极驱动信号,可能需要接近 1GHz 带宽的探头;测量其输出信号,700MHz 甚至 350MHz 带宽的探头也能满足需求。
三、具体应用场景是什么?
高压探头的选型与实际应用场景紧密相关,常见应用场景主要分为以下三类,不同场景对探头指标的侧重点有所不同:
功率半导体测试:针对单个功率器件进行测量,如捕获 MOSFET/IGBT 的栅极驱动信号与输出信号并分析,包括验证死区时间、测量开关损耗等。这类应用理想的探头需具备宽电压范围、高偏置能力、出色的共模抑制比(CMRR)以及较高的带宽。
浮地传感器测量:涉及对串联或分流电阻器、温度传感器、分立元件等的探测。由于此类信号通常幅值较小但电压偏移较大,因此对探头的隔离性能要求极高。
系统输入 / 输出测量:涵盖线路侧交流电压、DC/DC 转换器高低压输入输出、直流母线以及逆变器驱动 PWM 输出等测量。适用于该场景的探头,往往具备宽电压范围和共模范围的特性。
只要能够清晰解答上述三个问题,就能定位适配的高压探头,攻克选型难题。
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