SRS(Stanford Research Systems)QCM200是一款针对高分辨率质量检测优化的石英晶体微天平(QCM),依托石英晶体的压电谐振效应,通过精准捕获表面吸附质量引发的频率偏移,实现ng乃至pg级的定量检测。其在频率精度、动态范围及场景适配性上的优势,使其成为实验室科研与工业检测领域的核心工具。
| 参数项 | 规格值 | 备注 |
|---|---|---|
| 频率测量范围 | 1 MHz ~ 20 MHz | 支持AT-cut、BT-cut等常见晶体类型 |
| 频率分辨率 | 1 mHz | 最小可检测频率变化 |
| 频率精度(典型值) | ±0.005 Hz | 长期稳定性测试结果 |
| 质量灵敏度(5 MHz AT-cut) | ≈1.8 ng·cm⁻²·Hz⁻¹ | 质量变化与频率偏移的线性系数 |
| 最大Δf范围 | ±1000 Hz | 单晶体可检测的频率变化范围 |
| 通道数 | 1/4(可选) | QCM200-1为单通道,QCM200-4为4通道 |
| 数据接口 | USB 2.0、RS232、0-10 V模拟输出 | 支持本地/远程数据采集与控制 |
| 工作温度 | 0℃ ~ 50℃ | 工业级环境适应性 |
QCM200以“高分辨率+多通道+易用性”的组合优势,成为实验室基础研究与工业应用的桥梁——既满足科研人员对微观过程(分子吸附、细胞粘附)的定量分析需求,也能为工业生产提供可靠的质量控制依据。其稳定性能与灵活适配性,使其成为QCM领域的代表性产品。
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